目前LED 的出光效率普遍較低，這是由于晶格對(duì)光的吸收、襯底對(duì)光的吸收以及光在出射過程中反射、全內(nèi)反射造成的損失等多方面的原因?qū)е碌?。近年來，?duì)提高LED 出光效率方面的研究也較多，其中改進(jìn)LED 電極形狀是一個(gè)新起的分支[1 - 2]。優(yōu)化LED 的電極形狀需要注意3 個(gè)方面:①使用n 電極環(huán)繞p 電極的方法，這樣能夠讓電流在盡可能大的面積上由p 電極進(jìn)入n 電極，增加有效發(fā)光長度; ②n 與p 電極之間的距離應(yīng)相等，使電流盡可能均勻的分布; ③n 電極要分布在外側(cè)，這與①的理由相同。提高了LED 的出光效率就在一定程度上提高了LED 的電光轉(zhuǎn)換效率，對(duì)于LED 的節(jié)能優(yōu)勢有著重要的影響。但J. S. Yun 等人[2]只對(duì)常用的電極做簡單優(yōu)化，本文前期工作設(shè)計(jì)了復(fù)雜的優(yōu)化電極，并通過軟件模擬結(jié)果優(yōu)化電極，提高了出光效率的結(jié)果。

　　為對(duì)軟件模擬的情況進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，本次實(shí)驗(yàn)對(duì)前期模擬的6 種優(yōu)化電極的藍(lán)光芯片進(jìn)行試制，并對(duì)理論結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果在光學(xué)、電學(xué)和可靠性等方面做詳細(xì)的比較分析，用測試結(jié)果驗(yàn)證優(yōu)化電極在各方面的優(yōu)勢，并對(duì)各種電極的壽命做出預(yù)測。