艾法斯控股有限公司(紐約證券交易所：ARX)的全資子公司艾法斯有限公司宣布：其最新版本的S系列信號發(fā)生器(SGA和SGD)的性能已得到了提升，使其相位噪聲得以改善并擁有更好的RF電平精度。在載波頻率為1 GHz、頻率偏移為100 kHz至1 MHz時，相位噪聲可以改善多達(dá)6 dB，使得此區(qū)間內(nèi)的相位噪聲典型值達(dá)到-140 dBc / Hz。S系列在實現(xiàn)了此項技術(shù)水平的大幅度提升的基礎(chǔ)上，仍舊保持了高達(dá)100微秒的業(yè)界領(lǐng)先的頻率切換速度。



        通過添加寬帶模擬調(diào)制和任意波形發(fā)生器(ARB)列表模式，SGD的應(yīng)用范圍實現(xiàn)了進(jìn)一步的擴展。模擬調(diào)制功能提供了儀表的內(nèi)部AM、FM和相位調(diào)制，ARB列表模式則允許用戶在ARB中設(shè)置并生成多個波形文件，并將這些波形文件以串行方式連續(xù)播放，從而為用戶提供一種定制化的快速的測試序列切換能力。這種測試能力將廣泛應(yīng)用在跳頻雷達(dá)、跳頻電臺及快速頻率切換的測試過程中。

　　“相位噪聲的改善，將使那些使用S系列信號發(fā)生器進(jìn)行傳統(tǒng)接收機測試的客戶受益。尤其是當(dāng)該信號發(fā)生器被用作本地振蕩器或作為干擾信號而使用時，相噪的改善將顯得特別重要;在接收機選擇性和信噪比測量中提高的測試余量將支持對更高質(zhì)量接收機的測試。SGD各項性能的提升既能滿足模擬系統(tǒng)測試，又可以滿足進(jìn)行最新數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)測試的客戶需求。ARB任意波列表模式可以為射頻芯片(RFIC)的設(shè)計驗證和生產(chǎn)測試用戶提供當(dāng)前最快的測試序列。”Aeroflex信號源產(chǎn)品經(jīng)理David Asquith說。