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            AVR 內(nèi)部EEPROM讀寫式例

            作者: 時間:2013-12-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            eeprom_write_block (ORGDATA[0], Eval[0], 16); //塊寫入
            //看看EEPROM數(shù)據(jù)是否是能失電永久保存,可以注釋上面這句程序(不寫入,只是讀出),然后編譯,燒寫,斷電(一段時間),上電,調(diào)試。
            eeprom_read_block (CMPDATA[0],Eval[0], 16); //塊讀出,然后看看數(shù)據(jù)對不對?

            while (1);
            }
            /*
            ATmega16 包含512 字節(jié)的EEPROM 數(shù)據(jù)存儲器。
            它是作為一個獨立的數(shù)據(jù)空間而存在的,可以按字節(jié)讀寫。
            EEPROM的壽命至少為100,000 次擦除周期。
            EEPROM的訪問由地址寄存器EEAR、數(shù)據(jù)寄存器EEDR和控制寄存器EECR決定。
            也可以通過ISP和JTAG及并行電纜來固化EEPROM數(shù)據(jù)
            EEPROM數(shù)據(jù)的讀取:
            當(dāng)EEPROM地址設(shè)置好之后,需置位EERE以便將數(shù)據(jù)讀入EEDR。
            EEPROM數(shù)據(jù)的讀取需要一條指令,且無需等待。
            讀取EEPROM后CPU 要停止4 個時鐘周期才可以執(zhí)行下一條指令。
            注意:用戶在讀取EEPROM 時應(yīng)該檢測EEWE。如果一個寫操作正在進(jìn)行,就無法讀取EEPROM,也無法改變寄存器EEAR。
            EEPROM數(shù)據(jù)的寫入:
            1 EEPROM的寫訪問時間(自定時時間,編程時間)
            自定時功能可以讓用戶軟件監(jiān)測何時可以開始寫下一字節(jié)。(可以采用中斷方式)
            經(jīng)過校準(zhǔn)的1MHz片內(nèi)振蕩器用于EEPROM定時,不倚賴CKSEL熔絲位的設(shè)置。
            改變OSCCAL寄存器的值會影響內(nèi)部RC振蕩器的頻率因而影響寫EEPROM的時間。
            EEPROM自定時時間約為8.5 ms 即1MHz片內(nèi)振蕩器的8448個周期
            注意:這個時間是硬件定時的,數(shù)值比較保險,其實真正的寫入時間根本就用不了8.5mS那么長,而且跟電壓有關(guān),但芯片沒有提供其他的檢測編程完成的方法
            這個問題表現(xiàn)在舊版的AT90S系列上面,由于沒有自定時,數(shù)值定得太短,ATMEL給人投訴到頭都爆,呵呵!
            參考: 《用ATmega8535替換AT90S8535》文檔里面的
            寫EEPROM定時的改進(jìn)
            在AT90S8535中寫EEPROM的時間取決于供電電壓,通常為2.5ms@VCC=5V,4ms@VCC=2.7V。
            ATmega8535中寫EEPROM的時間為8448個校準(zhǔn)過的RC振蕩器周期 (與系統(tǒng)時鐘的時鐘源和頻率無關(guān))。
            假定校準(zhǔn)過的RC振蕩器為1.0MHz,則寫時間的典型值為8.4ms,與VCC 無關(guān)。

            2 為了防止無意識的EEPROM 寫操作,需要執(zhí)行一個特定的寫時序
            (如果使用編譯器的自帶函數(shù),無須自己操心)
            寫時序如下( 第3 步和第4 步的次序并不重要):
            1. 等待EEWE 位變?yōu)榱?BR>2. 等待SPMCSR 中的SPMEN 位變?yōu)榱?BR>3. 將新的EEPROM 地址寫入EEAR( 可選)
            4. 將新的EEPROM 數(shù)據(jù)寫入EEDR( 可選)
            5. 對EECR 寄存器的EEMWE 寫"1",同時清零EEWE
            6. 在置位EEMWE 的4 個周期內(nèi),置位EEWE
            經(jīng)過寫訪問時間之后,EEWE 硬件清零。
            用戶可以憑借這一位判斷寫時序是否已經(jīng)完成。
            EEWE 置位后,CPU要停止兩個時鐘周期才會運(yùn)行下一條指令。

            注意:
            1:在CPU 寫Flash 存儲器的時候不能對EEPROM 進(jìn)行編程。
            在啟動EEPROM 寫操作之前軟件必須檢查 Flash 寫操作是否已經(jīng)完成
            步驟(2) 僅在軟件包含引導(dǎo)程序并允許CPU對Flash 進(jìn)行編程時才有用。
            如果CPU 永遠(yuǎn)都不會寫Flash,步驟(2) 可省略。

            2:如果在步驟5 和6 之間發(fā)生了中斷,寫操作將失敗。
            因為此時EEPROM 寫使能操作將超時。
            如果一個操作EEPROM的中斷打斷了另一個EEPROM操作,EEAR 或EEDR寄存器可能被修改,引起EEPROM 操作失敗。
            建議此時關(guān)閉全局中斷標(biāo)志I。
            經(jīng)過寫訪問時間之后,EEWE 硬件清零。用戶可以憑借這一位判斷寫時序是否已經(jīng)完成。
            EEWE 置位后,CPU要停止兩個時鐘周期才會運(yùn)行下一條指令。

            在掉電休眠模式下的EEPROM寫操作
            若程序執(zhí)行掉電指令時EEPROM 的寫操作正在進(jìn)行, EEPROM 的寫操作將繼續(xù),并在指定的寫訪問時間之前完成。
            但寫操作結(jié)束后,振蕩器還將繼續(xù)運(yùn)行,單片機(jī)并非處于完全的掉電模式。因此在執(zhí)行掉電指令之前應(yīng)結(jié)束EEPROM 的寫操作。

            防止EEPROM數(shù)據(jù)丟失
            若電源電壓過低,CPU和EEPROM有可能工作不正常,造成EEPROM數(shù)據(jù)的毀壞(丟失)。
            **這種情況在使用獨立的EEPROM 器件時也會遇到。因而需要使用相同的保護(hù)方案。
            由于電壓過低造成EEPROM 數(shù)據(jù)損壞有兩種可能:
            一是電壓低于EEPROM 寫操作所需要的最低電壓;
            二是CPU本身已經(jīng)無法正常工作。
            EEPROM 數(shù)據(jù)損壞的問題可以通過以下方法解決:
            當(dāng)電壓過低時保持 RESET信號為低。
            這可以通過使能芯片的掉電檢測電路BOD來實現(xiàn)。如果BOD電平無法滿足要求則可以使用外部復(fù)位電路。
            若寫操作過程當(dāng)中發(fā)生了復(fù)位,只要電壓足夠高,寫操作仍將正常結(jié)束。
            (EEPROM在2V低壓下也能進(jìn)行寫操作---有可以工作到1.8V的芯片)

            掉電檢測BOD的誤解
            自帶的BOD(Brown-out Detection)電路,作用是在電壓過低(低于設(shè)定值)時產(chǎn)生復(fù)位信號,防止CPU意外動作.
            對EEPROM的保護(hù)作用是當(dāng)電壓過低時保持RESET信號為低,防止CPU意外動作,錯誤修改了EEPROM的內(nèi)容

            而我們所理解的掉電檢測功能是指 具有預(yù)測功能的可以進(jìn)行軟件處理的功能。
            例如,用戶想在電源掉電時把SRAM數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存到EEPROM,可行的方法是
            外接一個在4.5V翻轉(zhuǎn)的電壓比較器(VCC=5.0V,BOD=2.7V),輸出接到外部中斷引腳(或其他中斷)
            一但電壓低于4.5V,馬上觸發(fā)中斷,在中斷服務(wù)程序中把數(shù)據(jù)寫到EEPROM中保護(hù)起來
            注意: 寫一個字節(jié)的EEPROM時間長達(dá)8mS,所以不能寫入太多數(shù)據(jù),電源濾波電容也要選大一些


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