您是否有過為降壓穩(wěn)壓器充電、進行滿功率測試，隨后在進行電感指端溫度測試時留下了永久(燙傷)印記的經(jīng)歷呢?或許過高的磁芯損耗和交流繞組損耗就是罪魁禍首。在 100-kHz 開關(guān)頻率下，一般不會出現(xiàn)任何問題，這是因為磁芯損耗約占總電感損耗的 5% 到 10%。因此，相應(yīng)的溫升才是問題所在。一般而言，選擇電感時，只需計算出最大負載電流，通過容許 20% 紋波電流來建立電感。由于磁芯損耗微不足道，因此會出現(xiàn)類似于產(chǎn)品說明書中所示的溫升。然而，隨著開關(guān)頻率上升至 500 kHz 以上，磁芯損耗和繞組交流損耗可以極大地減少電感中的容許直流電流。使用 20% 紋波電流來計算電感，可帶來相同的磁芯材料通量激增，其與頻率無關(guān)。磁芯損耗方程式的一般形式為：

　　Pcore = K × F1.3。因此，如果頻率 (F) 從 100 kHz 升至 500 kHz，則磁芯損耗便為原來的 8 倍。圖 1 顯示了這種上升情況，還描述了隨磁芯損耗上升而下降的容許銅線損耗。100 KHz時，大多數(shù)損耗存在于銅線中，同時利用全直流額定電流是可能的。更高頻率時，磁芯損耗變大。由于總?cè)菰S損耗由磁芯損耗與銅線損耗之和決定，因此銅線損耗必須在磁芯損耗上升時降低。這種情況一直持續(xù)到各損耗均相等。最佳情況是，在高頻率下?lián)p耗穩(wěn)定保持相等，并允許從磁結(jié)構(gòu)獲得最大輸出電流。

　　總之，增加開關(guān)頻率會縮小磁芯尺寸的看法是正確的，但僅限于磁芯損耗和交流 繞組損耗等于銅線損耗的點上。過了這個點，磁芯尺寸實際上會增加。另外，設(shè)計人員需要注意的是，在有許多高開關(guān)頻率產(chǎn)品可供選擇的今天，一些相應(yīng)的應(yīng)用手冊中并沒有清楚地注明過高磁芯損耗存在的一些潛在問題。