過(guò)去，若某一產(chǎn)品在上一測(cè)試點(diǎn)不能測(cè)試，那么這個(gè)問(wèn)題就被簡(jiǎn)單地推移到直一個(gè)測(cè)試
點(diǎn)上去。如果產(chǎn)品缺陷在生產(chǎn)測(cè)試中不能發(fā)現(xiàn)，則此缺陷的識(shí)別與診斷也會(huì)簡(jiǎn)單地被推移到
功能和系統(tǒng)測(cè)試中去。

相反地，今天人們?cè)噲D盡可能提前發(fā)現(xiàn)缺陷，它的好處不僅僅是成本低，更重要的是今
天的產(chǎn)品非常復(fù)雜，某些制造缺陷在功能測(cè)試中可能根本檢查不出來(lái)。例如某些要預(yù)先裝軟
件或編程的元件，就存在這樣的問(wèn)題。（如快閃存儲(chǔ)器或ISPs：In-System Programmable
Devices 系統(tǒng)內(nèi)可編程器件）。這些元件的編程必須在研制開(kāi)發(fā)階段就計(jì)劃好，而測(cè)試系統(tǒng)
也必須掌握這種編程。