玻璃體線狀缺陷(寬度W)：包括玻筋、光學(xué)變形見(jiàn)表1-4。表1-4

膜層點(diǎn)狀缺陷：SIO2阻擋層和ITO導(dǎo)電層的點(diǎn)狀缺陷包括針孔、空洞、顆粒等，點(diǎn)狀缺陷的直徑定義為：d=(缺陷長(zhǎng)+缺陷寬)/2。見(jiàn)表1-5。表1-5

ITO導(dǎo)電玻璃的工廠自適應(yīng)測(cè)試方法及判定標(biāo)準(zhǔn)：

尺寸：

A、測(cè)試方法：用直尺和游標(biāo)卡尺測(cè)量待測(cè)玻璃原片的長(zhǎng)度、寬度、厚度。

B、判定標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)量結(jié)果在供貨商所提供的參數(shù)范圍之內(nèi)為合格。

面電阻:

A、測(cè)試方法：把待測(cè)試玻璃整個(gè)區(qū)域做為測(cè)試區(qū)域，然后測(cè)試區(qū)域分成九等份后再用四探針測(cè)試儀分別測(cè)試各區(qū)域的面電阻。

B、判定標(biāo)準(zhǔn)：根據(jù)測(cè)試結(jié)果計(jì)算出電阻平均值及電阻資料分散值，結(jié)果在要求范圍內(nèi)既是合格。

ITO層溫度性能

A、測(cè)試方法：把待測(cè)玻璃原片在3000C的空氣中，加熱30分鐘，測(cè)試其加溫前后的同一點(diǎn)面電阻阻值。

B、判定標(biāo)準(zhǔn)：ITO導(dǎo)電膜方塊電阻值應(yīng)不大于原方塊電阻的300%為合格。

蝕刻性能：

A、測(cè)試方法：把待測(cè)玻璃原片放入生產(chǎn)線所用的蝕刻液中測(cè)試其蝕刻完全的時(shí)間。

B、判定標(biāo)準(zhǔn)：蝕刻完全的時(shí)間值小于生產(chǎn)工藝所設(shè)定時(shí)間的一半值為合格。

或按表1-1蝕刻性能指針檢測(cè)。

ITO層耐堿性能

A、測(cè)試方法：把待測(cè)玻璃原片放在600C、濃度為10%氫氧化鈉溶液中5分鐘后，測(cè)試其浸泡前后的同一點(diǎn)面電阻阻值。

B、判定標(biāo)準(zhǔn)：ITO層方塊電阻變化值不超過(guò)10%為合格。

光電性能與可靠性：

A、測(cè)試方法：把待測(cè)玻璃與現(xiàn)生產(chǎn)用玻璃按現(xiàn)生產(chǎn)工藝參數(shù)，選擇一型號(hào)制作成成品并測(cè)試其光電與可靠性性能；

B、判定標(biāo)準(zhǔn)：光電性能與可靠性測(cè)試結(jié)果與現(xiàn)生產(chǎn)用玻璃結(jié)果相當(dāng)，并在測(cè)試產(chǎn)品型號(hào)要求范圍之內(nèi)。

ITO導(dǎo)電玻璃的選用規(guī)則：

模數(shù)在240以上的產(chǎn)品，一般可選用供貨商B級(jí)品玻璃；

模數(shù)在40模以上，240模以下的產(chǎn)品，一般選用普通A級(jí)品玻璃；

模數(shù)在40模以下的產(chǎn)品，STN產(chǎn)品，一般選用低電阻拋光玻璃。

COG產(chǎn)品，一般選用15奧姆拋光玻璃。附：工廠ITO玻璃參考選用原則：

6、ITO導(dǎo)電玻璃的使用方法：

l 任何時(shí)候都不容許迭放；

l 除規(guī)定外，一般要求豎向放置；平放操作時(shí)，盡量保持ITO面朝下；厚度在0.55mm以下的玻璃只能豎向放置；

l 取放時(shí)只能接觸四邊，不能接觸導(dǎo)電玻璃ITO表面；

l 輕拿輕放，不能與其它治具和機(jī)器碰撞；

l 如果要長(zhǎng)時(shí)間存放，一定要注意防潮，以免影響玻璃的電阻和透過(guò)率；

l 對(duì)于大面積和長(zhǎng)條形玻璃，在設(shè)計(jì)排版時(shí)要考慮玻璃基片的浮法方向。

7、ITO導(dǎo)電玻璃的貯存及搬運(yùn)方法：

ITO導(dǎo)電玻璃的貯存方法：

ITO導(dǎo)電玻璃應(yīng)貯存在室溫條件下，濕度在65%以下干燥保存；貯放時(shí)玻璃保持豎向放置，玻璃間堆放不可超過(guò)二層，木箱裝ITO導(dǎo)電玻璃貨物堆放不可超過(guò)五層。紙箱裝貨ITO導(dǎo)電玻璃貨物，原則上不能堆放。

ITO導(dǎo)電玻璃搬運(yùn)方法：

易碎品，小心輕放，保持搬運(yùn)過(guò)程中的穩(wěn)定性，搬運(yùn)時(shí)層高不得超過(guò)三層。