試驗(yàn)分析

　　圖3：開(kāi)關(guān)電源負(fù)載調(diào)整率測(cè)試電路

　　下面通過(guò)以下兩個(gè)實(shí)驗(yàn)來(lái)驗(yàn)證該方案的可行性：

　　1．測(cè)量負(fù)載調(diào)整率

　　實(shí)驗(yàn)電路如圖3所示。由電子負(fù)載依次拉出0mA到400mA的電流，在每個(gè)負(fù)載點(diǎn)記錄下開(kāi)關(guān)電源的輸出電壓。測(cè)試數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)處理，可以得出圖4所示的圖表。該圖充分說(shuō)明，LDO優(yōu)秀的負(fù)載調(diào)整率已經(jīng)被完全移植到開(kāi)關(guān)電源上。換言之，LDO極大地提高了開(kāi)關(guān)電源的負(fù)載調(diào)整率。

　　2．輸出紋波的測(cè)量

　　分別在開(kāi)關(guān)電源的LDO輸入端和輸出端接上示波器，可以得出圖5所示的波形。其中Ch1是LDO入口處的輸出波形，而Ch2是LDO出口處的輸出波形，即開(kāi)關(guān)電源的最終輸出波形。

　　由上圖可以看出，LDO有效地濾除了開(kāi)關(guān)電源EMI信號(hào)，相對(duì)于搭建常規(guī)EMI過(guò)濾器來(lái)講，應(yīng)用LDO更簡(jiǎn)單可靠。