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            鋰離子電池保護(hù)電路的原理和特性要求

            作者: 時(shí)間:2012-11-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
            0,0); TEXT-INDENT: 0px; PADDING-TOP: 0px; WHITE-SPACE: normal; LETTER-SPACING: normal; BACKGROUND-COLOR: rgb(255,255,255); orphans: 2; widows: 2; -webkit-text-size-adjust: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px">  2.降低保護(hù)IC的耗電

              隨著使用時(shí)間的增加,已充過電的電池電壓會(huì)逐漸降低,最后低到規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)值以下,此時(shí)就需要再度充電。若未充電而繼續(xù)使用,可能造成由于過度放電而使電池不能繼續(xù)使用。為防止過度放電,保護(hù)IC必須檢測(cè)電池電壓,一旦達(dá)到過度放電檢測(cè)電壓以下,就得使放電一方的功率MOSFET切斷而截止放電。但此時(shí)電池本身仍有自然放電及保護(hù)IC的消耗電流存在,因此需要使保護(hù)IC消耗的電流降到最低程度。

              3.過電流/短路保護(hù)需有低檢測(cè)電壓及高精密度的要求

              因不明原因?qū)е露搪窌r(shí)必須立即停止放電。過電流的檢測(cè)是以功率MOSFET的Rds(on)為感應(yīng)阻抗,以監(jiān)視其電壓的下降,此時(shí)的電壓若比過電流檢測(cè)電壓還高時(shí)即停止放電。為了使功率MOSFET的Rds(on)在充電電流與放電電流時(shí)有效應(yīng)用,需使該阻抗值盡量低,目前該阻抗約為20mΩ~30mΩ,這樣過電流檢測(cè)電壓就可較低。

              4.耐高電壓

              電池包與充電器連接時(shí)瞬間會(huì)有高壓產(chǎn)生,因此保護(hù)IC應(yīng)滿足耐高壓的要求。

              5.低電池功耗

              在保護(hù)狀態(tài)時(shí),其靜態(tài)耗電流必須要小0.1μA.

              6.零伏可充電

              有些電池在存放的過程中可能因?yàn)榉盘没虿徽5脑驅(qū)е码妷旱偷?V,故保護(hù)IC需要在0V時(shí)也可以實(shí)現(xiàn)充電。

              六、保護(hù)IC發(fā)展展望

              如前所述,未來保護(hù)IC將進(jìn)一步提高檢測(cè)電壓的精密度、降低保護(hù)IC的耗電流和提高誤動(dòng)作防止功能等,同時(shí)充電器連接端子的高耐壓也是研發(fā)的重點(diǎn)。 在封裝方面,目前已由SOT23-6逐漸轉(zhuǎn)向SON6封裝,將來還有CSP封裝,甚至出現(xiàn)COB產(chǎn)品用以滿足現(xiàn)在所強(qiáng)調(diào)的輕薄短小要求。

              在功能方面,保護(hù)IC不需要整合所有的功能,可根據(jù)不同的鋰電池材料開發(fā)出單一保護(hù)IC,如只有過充保護(hù)或過放保護(hù)功能,這樣可以大幅減少成本及尺寸。

              當(dāng)然,功能組件單晶體化是不變的目標(biāo),如目前手機(jī)制造商都朝向?qū)⒈Wo(hù)IC、充電電路以及電源管理IC等周邊電路與邏輯IC構(gòu)成雙芯片的芯片組,但目前要使功率MOSFET的開路阻抗降低,難以與其它IC整合,即使以特殊技術(shù)制成單芯片,恐怕成本將會(huì)過高。因此,保護(hù)IC的單晶體化將需一段時(shí)間來解決。


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