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      LTE芯片及終端測(cè)試

      作者: 時(shí)間:2013-09-22 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

      1 引言

        測(cè)試儀表和測(cè)試系統(tǒng)作為TD-LTE產(chǎn)業(yè)鏈中重要的環(huán)節(jié),目前,對(duì)TD-LTE測(cè)試儀表的需求已經(jīng)涵蓋了整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈的各個(gè)階段。

        2 RS的LTE測(cè)試解決方案

        羅德與施瓦茨公司(RS)作為歐洲最大的測(cè)試測(cè)量?jī)x表供應(yīng)商,具有強(qiáng)大的研發(fā)和生產(chǎn)實(shí)力。基于其在2G和3G測(cè)試領(lǐng)域的領(lǐng)先地位,RS對(duì)于LTE從早期的研發(fā)階段就開始跟蹤研究,積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)。為了推動(dòng)TD-LTE產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,RS公司為客戶提供從LTE(包括TD-LTE和FDD LTE)仿真、設(shè)計(jì)、研發(fā)、生產(chǎn)、測(cè)試等一系列的測(cè)試測(cè)量解決方案,可以滿足客戶各個(gè)階段的需求(見圖1)。

        

      RS的LTE測(cè)試解決方案

        圖1 RS的LTE測(cè)試解決方案

        3 和終端研發(fā)

        (1)LTE信號(hào)產(chǎn)生和分析

        RS的信號(hào)源如SMU,AMU以及SMBV系列加上選件后就可以按照規(guī)范實(shí)時(shí)地產(chǎn)生LTE上/下行射頻或基帶信號(hào),用于元器件性能測(cè)試以及終端的接收機(jī)測(cè)試;RS的FSx系列頻譜和信號(hào)分析儀能分析LTE上/下行射頻或基帶信號(hào),用于元器件性能測(cè)試以及終端的發(fā)射機(jī)測(cè)試。

        由于被測(cè)設(shè)備可能采用特殊的數(shù)字基帶信號(hào)格式,RS提供EX-IQ-BOX來針對(duì)不同數(shù)字基帶信號(hào)格式進(jìn)行適配。

        (2)LTE終端協(xié)議和IOT測(cè)試

        LTE協(xié)議棧的測(cè)試用來驗(yàn)證一些信令功能,例如呼叫建立和釋放、呼叫重配置、狀態(tài)處理和移動(dòng)性等。和2G,3G系統(tǒng)的互操作性(IOT)測(cè)試是對(duì)LTE的另外一個(gè)需求。為了保證終端的協(xié)議棧和應(yīng)用可以處理高數(shù)據(jù)率的數(shù)據(jù),需要測(cè)試驗(yàn)證終端吞吐量的要求。在LTE實(shí)現(xiàn)的早期,研發(fā)部門需要包含各個(gè)參數(shù)配置的多種測(cè)試場(chǎng)景來進(jìn)行LTE協(xié)議棧的測(cè)試。此外,LTE物理層具有很多重要功能,這包括小區(qū)搜索,HARQ協(xié)議,調(diào)度安排,鏈路自適應(yīng),上行時(shí)間控制和功率控制等,而且這些過程有著很嚴(yán)格的定時(shí)要求。因此,也需要對(duì)物理層進(jìn)行完全測(cè)試來保證LTE的性能。

        RS的CMW500協(xié)議測(cè)試儀可以用于LTE終端的協(xié)議一致性測(cè)試、性能測(cè)試和互操作測(cè)試。同時(shí),RS還提供用于PC機(jī)上的虛擬測(cè)試(Virtual Tester)軟件,使工程師在早期就進(jìn)行協(xié)議開發(fā)的工作。所以使用CMW500可以并行進(jìn)行軟件和硬件的協(xié)同開發(fā)、測(cè)試和優(yōu)化,從而加快產(chǎn)品的上市時(shí)間。

        CMW500可以提供MLAPI和LLAPI這兩個(gè)協(xié)議棧測(cè)試所需的底層和高層編程接口,這樣開發(fā)者在早期就可以對(duì)協(xié)議棧進(jìn)行靈活測(cè)試,而且這樣的測(cè)試是和后期的一致性測(cè)試完全兼容的,可以節(jié)省后期測(cè)試的時(shí)間和成本。

        (3)LTE終端射頻認(rèn)證/預(yù)認(rèn)證測(cè)試


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      關(guān)鍵詞: LTE芯片 終端測(cè)試

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