把DEVICE交給DA的結果無非就是確認電路某個壞點或者觀察一下curve trace的圖形。基于樓主的描述，基本上可以確定是這顆產品的問題，driving pattern和i/o的assignment應該不會有錯，否則標準件不會過關。

　　如果要究其原因，我想大概要聯系到半導體物理的內容了。電路參數的fluctuation造成的intermitent failure有可能是alpha粒子的轟擊或者電路內部EMI(電磁輻射，如果片內有感性器件的話)所造成的，我想工程上是不需要涉及到這個LEVEL的。

　　目前的解決方法就是請DA出一個報告，主要是benchtest和curve trace的報告，觀察在靜態(tài)(無relay動作下)條件下ICC/VCC的曲線特征。做到這一步也就可以了。

　　測試穩(wěn)定性關系到你本身產品的性能、測試方法、還有硬件(設備、Test Board)。

　　1、測試不穩(wěn)定的參數是否僅有VOUT一項?(占空比，頻率?VOUT其它電壓條件的如何?)

　　2、尋找測試結果的分布規(guī)律，是否變動很大?還是總是偏大/偏小?

　　3、你的參數測試方法?使用哪些硬件資源，DUT外圍器件如何?

　　不知道你使用的Test Board電路如何?

　　因為2576是開關電路，測試電路的EMI(電磁干擾)問題尤為重要。

　　- 輸入、輸出端的連線要盡量短

　　- 使用單點接地方式

　　- 是否使用的是肖特基二極管1N5822(或者快恢復二極管)。這點往往被工程師或略，常用1N4XXX等普通整流/開關管代替，這樣會造成EMI增大，輸出效率降低，是不穩(wěn)定的一個禍因。

　　以前我處理過LM/MC34063，也是遇到測試穩(wěn)定性差的問題。

　　看看你的pattern和電源濾波電容有沒有問題

　　ICC應該讓chip不停的run，那么你的pattern應該是loop的，如果loop的首尾連接不好就可能出現這樣的問題

　　另外，測試儀也是個問題，你可以反復測試幾個DUT，看看有什么規(guī)律沒有Pin有沒有I/O類型的，如果有外面結法是否應該檢查一下內部有沒有電容，charge pump一類的功耗元件

　　如果都不是，就要看看版圖or加工了，是否內部有虛短的東西，這個比較難分析了

　　也就是TL431吧?3PIN(TO92/8SOP)Voltage Reference，我們生產過。你能肯定是測試還是FAB的問題?30ea是否為真的不良，有沒有驗證過?

　　查連線吧