高精度低成本：一款LED老化測(cè)試方案 作者： 時(shí)間：2013-09-28 來源：網(wǎng)絡(luò) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> ; FONT: 14px/25px 宋體, arial; TEXT-TRANSFORM: none; COLOR: rgb(0,0,0); TEXT-INDENT: 0px; PADDING-TOP: 0px; WHITE-SPACE: normal; LETTER-SPACING: normal; webkit-text-size-adjust: auto; orphans: 2; widows: 2; webkit-text-stroke-width: 0px"> LED 發(fā)光的特性，對(duì)LED 照明產(chǎn)品老化測(cè)試的方案提出了特殊要求。上文中介紹的LED 老化測(cè)試方案，可廣泛應(yīng)用于LED 照明以及背光產(chǎn)品的老化測(cè)試，并且表現(xiàn)堪稱完美。選擇專業(yè)應(yīng)用于LED 行業(yè)的電源及控制軟件，搭建上述測(cè)試系統(tǒng)，可得到最為精準(zhǔn)、有效地?cái)?shù)據(jù)。 上一頁 1 2 3 下一頁
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