晶圓級(jí)可靠性測(cè)試:器件開發(fā)的關(guān)鍵步驟（二） 作者： 時(shí)間：2013-11-30 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫(kù)查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 為應(yīng)力加載時(shí)間的函數(shù)作圖。所有的應(yīng)力偏壓和測(cè)量都是在高溫（例如，135℃）下完成。 上一頁(yè) 1 2 下一頁(yè)
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