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            IC靜電放電的測(cè)試方法

            作者: 時(shí)間:2013-11-30 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
            : 0px; MARGIN: 0px 0px 20px; PADDING-LEFT: 0px; PADDING-RIGHT: 0px; FONT: 14px/25px 宋體, arial; WHITE-SPACE: normal; ORPHANS: 2; LETTER-SPACING: normal; COLOR: rgb(0,0,0); WORD-SPACING: 0px; PADDING-TOP: 0px; -webkit-text-size-adjust: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px"> ?。?)圖5為PD-模式(Pin-to-VDD正極性):VDD腳接地,正的ESD電壓出現(xiàn)在該I/0腳對(duì)VDD腳放電,此時(shí)Vss與其他腳懸空。

              (4)圖6為ND-模式(Pin-to-VDD負(fù)極性):VDD腳接地,負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對(duì)VDD腳放電,此時(shí)Vss與其他腳懸空。

            3.2 Pin-to-Pin的測(cè)試

              可能出現(xiàn)在的任何兩只管腳之間,若該兩只管腳之間無直接的相關(guān)電路,唯一共同使用的是VDD與Vss電源線相連接,就有可能出現(xiàn)當(dāng)ESD放電發(fā)生在不相干的兩只腳之間時(shí),電流會(huì)先經(jīng)過某部分電路流向VDD或Vss電源線上,再由VDD或Vss電源線連接流向另一只腳,再由那只IC腳流出IC。但是如果每一個(gè)IC的兩只管腳之間都要做測(cè)試,那么一個(gè)40HN的IC便要有1560種排列組合的ESD測(cè)試,這樣太浪費(fèi)時(shí)間。因此測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)便規(guī)定了改良式的。如圖7-圖8所示,即所謂的Pin-to-Pin測(cè)試。在該種方法的測(cè)試組合中,也按靜電放電的正負(fù)兩種極性分成兩種測(cè)試模式:

             ?。?)圖7為正極性模式:正的ESD電壓出現(xiàn)在某一I/O腳,此時(shí)所有其他I/O腳全部接地,但所有的VDo腳與Vss腳都懸空。

             ?。?)圖8為負(fù)極性模式:負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在某一I/O腳,此時(shí)所有其他I/O腳全部接地,但所有的VDD腳與Vss腳都懸空。

              3. 3 VDD-to-VSS靜電放電測(cè)試

              靜電放電也可能發(fā)生在VDD腳與VSS腳之間,因此對(duì)VDD腳與Vss腳有下列測(cè)試組合,其等效電路示意圖如圖9-圖12所示

              1)圖9為VDD-正極性模式:正的ESD電壓出現(xiàn)在VDD腳,此時(shí)Vss接地,但所有的I/O腳都懸空。

             ?。?)圖10為VDD-負(fù)極性模式:負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在VDD腳,此時(shí)Vss接地,但所有的I/O腳都懸空。

             ?。?)圖11為Vss-正極性模式:正的ESD電壓出現(xiàn)在Vss腳,此時(shí)VDD接地,但所有的I/O腳都懸空。

             ?。?)圖12為Vss-負(fù)極性模式:負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在Vss腳,此時(shí)VDD接地,但所有的I/O腳都懸空。

              這里需要做一些說明:在一個(gè)IC中,各個(gè)管腳的功能有所不同。可能有兩個(gè)或兩個(gè)以上標(biāo)注為相同名稱的電源腳(例如:Vcc、VDD、Vss、analog、GND、digital、GND等等),按照標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,只要這些電源腳在內(nèi)部是通過金屬連接或歐姆連接,兩個(gè)電源腳之間的引線電阻小于2Ω,就可以把這一組電源腳或接地腳連在一起,看成是一個(gè)VDD Grouppin或VssGrouppin,其他IC腳分別對(duì)其進(jìn)行靜電測(cè)試。否則就應(yīng)該把這些VDD或Vss看成是各自獨(dú)立的,其他腳分別按照以上的測(cè)試組合對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。除了電源腳以外的其他各種類型的管腳,比如數(shù)據(jù)、地址、讀寫控制、時(shí)鐘、基準(zhǔn)和補(bǔ)償?shù)裙苣_,在靜電測(cè)試時(shí)不用考慮其管腳的功能,只把他們看成是Inputpin或Outputpino。

              3.4 Analog Pin的靜電放電測(cè)試

              在類比(Analog)IC中有一種測(cè)試組合,在標(biāo)準(zhǔn)中是沒有規(guī)定到,但在實(shí)際使用中有些IC工程師為了能夠更精確的測(cè)試這類IC的抗靜電能力,經(jīng)常使用這種測(cè)試組合,這種組合就是類比(Analog)IC內(nèi)的差動(dòng)輸入級(jí)(DifferentialPair)的測(cè)試組合。例如運(yùn)算放大器(OPAMP)的輸入級(jí),如果該差動(dòng)輸入級(jí)的正負(fù)輸入級(jí)都連接到IC的管腳時(shí),這兩只輸入腳要另外單獨(dú)做靜電放電測(cè)試,以驗(yàn)證該兩只輸入腳所連接的差動(dòng)輸入級(jí)會(huì)不會(huì)被靜電放電所破壞,其等效電路示意圖如圖13和圖14所示:

             ?。?)圖13為正極性模式:正的ESD電壓出現(xiàn)在差動(dòng)輸入級(jí)的正輸入腳位,此時(shí)差動(dòng)輸入級(jí)的負(fù)輸入腳接地,但其他所有的I/O腳以及VDD與Vss腳都懸空。

             ?。?)圖14為負(fù)極性模式:負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在差動(dòng)輸入級(jí)的正輸入腳位,此時(shí)差動(dòng)輸入級(jí)的負(fù)輸入腳接地,但其他所有的I/O

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