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            EEPW首頁(yè) > 元件/連接器 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 一顆電容引發(fā)的血案

            一顆電容引發(fā)的血案

            作者: 時(shí)間:2025-02-08 來(lái)源:硬十 收藏

            在硬件設(shè)計(jì)這個(gè)看似平靜的江湖中,實(shí)則每一個(gè)決策都暗藏洶涌。每一個(gè)元器件的選擇,都可能成為項(xiàng)目成敗的關(guān)鍵轉(zhuǎn)折點(diǎn)。就像今天要講的這個(gè)故事,一顆小小的,差點(diǎn)引發(fā)一場(chǎng) “血案”。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/202502/466736.htm

            一、背景與問(wèn)題暴露

            在神秘的以全志T527為核心芯片的“算力智能終端”的項(xiàng)目里,設(shè)計(jì)初期,Buck 電路的輸入選用的是鋁電解,直接參考全志的Demo板。

            這顆鋁電解電容雖然具備大容量、低成本的特點(diǎn),但其缺點(diǎn)也十分明顯。它體積龐大,在電路板這個(gè)狹小的空間里,嚴(yán)重影響布局的合理性,如同巨人在狹窄巷道中艱難前行;等效串聯(lián)電阻(ESR)過(guò)高,導(dǎo)致能量損耗嚴(yán)重,每次電流涌動(dòng)都伴隨著大量能量白白流失,恰似揮霍無(wú)度的富家子弟;而且它壽命短暫,尤其是在高溫環(huán)境下,極易干涸,性能迅速衰退,仿佛一位體弱多病的老人,經(jīng)不起絲毫折騰。

            原輸入電容采用鋁電解電容?;谝韵峦袋c(diǎn)提出優(yōu)化需求:

            1. 鋁電解電容固有缺陷:體積大(影響布局)、ESR高(損耗大)、壽命短(高溫下易干涸)

            2. 系統(tǒng)升級(jí)需求:新方案要求工作溫度范圍擴(kuò)展至-40~105℃,小型化需求提升


            就在此時(shí),系統(tǒng)升級(jí)的號(hào)角突然吹響。新方案要求工作溫度范圍從原本的常規(guī)區(qū)間一下子拓展到了 - 40~105℃這個(gè)極端范圍,同時(shí)對(duì)小型化的需求也愈發(fā)緊迫。這就好比江湖中突然崛起一個(gè)新門派,要求所有俠客都必須擁有更強(qiáng)的適應(yīng)能力和更敏捷的身手。很顯然,原本的鋁電解電容這位老俠客已無(wú)法滿足這些嚴(yán)苛的要求,一場(chǎng)電容的變革迫在眉睫。

            在第一版設(shè)計(jì)中,這三個(gè)鋁電解電容是不是格外“扎眼”?

            二、技術(shù)選型爭(zhēng)議過(guò)程

            階段 1:工程師初步選型

            負(fù)責(zé)硬件修改原理圖的設(shè)計(jì)師做了改版需求,為產(chǎn)品化做準(zhǔn)備。

            原方案中那 100uF/50V、體型為 φ8×12mm 的鋁電解電容需要去掉,又MLCC替代。他參考全志 T527 的 demo 板設(shè)計(jì),直接復(fù)制了一顆物料規(guī)格為: 22uF/50V MLCC(0805 封裝)。

            階段 2:技術(shù)質(zhì)疑與驗(yàn)證

            我,看到這個(gè)MLCC的規(guī)格后,提出質(zhì)疑:

            0805封裝的陶瓷電容,不可能做到22uF,耐壓同時(shí)達(dá)到50V。

            質(zhì)疑點(diǎn)

            驗(yàn)證手段

            驗(yàn)證結(jié)果

            封裝與容量匹配性

            MLCC 容量 - 電壓 - 封裝對(duì)照表

            0805 封裝 MLCC 在 50V 耐壓下最大容量≤4.7uF(Murata GRM 系列數(shù)據(jù)手冊(cè)驗(yàn)證)

            原廠 Demo 板適用性



            供應(yīng)鏈可行性

            供應(yīng)商深度調(diào)研

            村田

            GRM31CR61H226KE15L(1206/25V/22uF)單價(jià) 0.3¥左右


            三、關(guān)鍵技術(shù)決策樹分析

            在這場(chǎng)激烈的爭(zhēng)論中,我們必須冷靜下來(lái),運(yùn)用關(guān)鍵技術(shù)決策樹來(lái)分析。

            graph TDA[輸入電容選型] --> B{關(guān)鍵需求}B --> C[耐壓25V]B --> D[容量≥10uF]B --> E[封裝≤1210]B --> F[國(guó)產(chǎn)優(yōu)先]C --> G[MLCC直流偏壓特性]D --> H[溫度特性驗(yàn)證]E --> I[機(jī)械應(yīng)力分析]F --> J[供應(yīng)鏈審核]

            這就如同在復(fù)雜的江湖迷宮中找到了一張地圖,我們要依據(jù)各個(gè)關(guān)鍵需求,逐一剖析,找到最合適的電容。而國(guó)產(chǎn)電容能否在這場(chǎng)抉擇中突出重圍,成為了大家心中的一大懸念。

            四、最終方案確定

            在進(jìn)行國(guó)產(chǎn)電容和日本電容的抉擇時(shí),我們進(jìn)行了多方面的深入探討。

            性能方面

            太誘的 TCK107KX5R1C250J,單顆 22uF 的容量,在電氣性能上表現(xiàn)較為出色,能較好地滿足 Buck 電路在電氣參數(shù)方面的要求。而國(guó)產(chǎn)風(fēng)華高科的 FH12C106G250NT,單顆 10uF,雖然單顆容量不及太誘電容,但兩顆組合起來(lái)也能達(dá)到 20uF,基本滿足容量需求。在直流偏壓測(cè)試中,太誘電容在不同電壓下容量保持相對(duì)穩(wěn)定,而風(fēng)華高科電容在 25V 時(shí)容量為初始的 65% ,雖有下降但仍在可接受范圍。在溫度特性上,兩者都能滿足 - 40~105℃的工作溫度范圍,但太誘電容在高溫下性能波動(dòng)略??;不過(guò)在機(jī)械應(yīng)力測(cè)試中,風(fēng)華高科 1206 封裝的電容在 2mm 變形量下無(wú)開裂,優(yōu)于部分同類型日本電容。

            成本考量

            使用兩顆國(guó)產(chǎn)電容的成本確實(shí)高于單顆日本電容。這對(duì)項(xiàng)目的成本預(yù)算帶來(lái)了一定壓力,尤其是在大規(guī)模生產(chǎn)時(shí),成本差異會(huì)更加明顯。

            供應(yīng)鏈穩(wěn)定性

            日本太誘和村田等品牌,在國(guó)際市場(chǎng)上供應(yīng)鏈成熟,但受國(guó)際貿(mào)易形勢(shì)、疫情等因素影響,交期難以保證;交期長(zhǎng)短是一方面,我們很多產(chǎn)品是需要全國(guó)產(chǎn)化的。而國(guó)產(chǎn)風(fēng)華高科,國(guó)內(nèi)供應(yīng)鏈穩(wěn)定,能有效避免因國(guó)際形勢(shì)變化帶來(lái)的供應(yīng)風(fēng)險(xiǎn)。從長(zhǎng)期來(lái)看,支持國(guó)產(chǎn)供應(yīng)鏈,有利于保障公司產(chǎn)品的持續(xù)生產(chǎn),降低供應(yīng)中斷的風(fēng)險(xiǎn)。

            長(zhǎng)期技術(shù)發(fā)展戰(zhàn)略

            雖然目前國(guó)產(chǎn)陶瓷電容在技術(shù)上與日本存在差距,但如果我們一味選擇日本電容,國(guó)產(chǎn)電容企業(yè)將缺乏市場(chǎng)應(yīng)用機(jī)會(huì),技術(shù)提升會(huì)更加緩慢。選擇國(guó)產(chǎn)電容,雖然短期內(nèi)可能面臨性能和成本上的一些劣勢(shì),但從長(zhǎng)遠(yuǎn)看,能夠?yàn)閲?guó)產(chǎn)電容產(chǎn)業(yè)提供發(fā)展動(dòng)力,促進(jìn)技術(shù)進(jìn)步,逐步縮小與國(guó)際先進(jìn)水平的差距,實(shí)現(xiàn)供應(yīng)鏈的自主可控。

            經(jīng)過(guò)激烈討論和權(quán)衡利弊,我們堅(jiān)定地選擇了兩顆 FH12C106G250NT(風(fēng)華高科,1206 封裝,25V,X7R,10uF)電容。雖然成本、布局上可能沒有太大優(yōu)勢(shì),但我們相信,這是對(duì)國(guó)產(chǎn)技術(shù)發(fā)展的一次有力支持。

            雖然兩顆國(guó)產(chǎn)電容在某些性能上可能不如日本的一顆電容,但它們的組合也能滿足項(xiàng)目需求,并且在供應(yīng)鏈安全和支持國(guó)產(chǎn)技術(shù)發(fā)展方面有著重要意義。

            五、經(jīng)驗(yàn)總結(jié)與規(guī)范更新

            這場(chǎng)由電容引發(fā)的 “血案”,讓我們收獲了許多寶貴的經(jīng)驗(yàn)。

            Demo 板參考準(zhǔn)則

            區(qū)分驗(yàn)證性設(shè)計(jì)(EVB)與量產(chǎn)設(shè)計(jì)(PB),不能再把芯片原廠的Demo方案當(dāng)成量產(chǎn)的法寶。

            建立 "參考設(shè)計(jì)適配系數(shù)" 評(píng)估模型,從環(huán)境應(yīng)力、量產(chǎn)可行性等 6 個(gè)維度,全面評(píng)估參考設(shè)計(jì)的適用性,針對(duì)全志 T527 的 demo 板,要特別關(guān)注其設(shè)計(jì)目的和應(yīng)用場(chǎng)景與量產(chǎn)的差異。

            原廠的 demo 板主要目的不是直接支持你產(chǎn)品化和批量生產(chǎn);芯片原廠,做 demo 主要考慮把芯片工程用全,芯片功能驗(yàn)證;他們對(duì)規(guī)范性,批量化生產(chǎn)沒有過(guò)多的思考;不能完全照搬。

            MLCC 選型四象限法

            縱軸:電氣需求(耐壓 / 容量)

            橫軸:物理限制(尺寸 / 應(yīng)力)

            四個(gè)象限采用不同選型策略

            這就像是在武林中找到了一套獨(dú)特的武功秘籍,讓我們?cè)?MLCC 選型時(shí)更加得心應(yīng)手。

            國(guó)產(chǎn)化推進(jìn)機(jī)制

            建立 "ABC 分級(jí)替代" 策略:

            • A 類(完全替代):建立雙源認(rèn)證,確保供應(yīng)鏈的穩(wěn)定。

            • B 類(參數(shù)達(dá)標(biāo)):6 個(gè)月驗(yàn)證期,逐步實(shí)現(xiàn)國(guó)產(chǎn)化替代。

            • C 類(技術(shù)差距):聯(lián)合研發(fā)立項(xiàng),攻克技術(shù)難題。

            設(shè)計(jì)規(guī)范更新

            新增 MLCC 直流偏壓降額規(guī)范:工作電壓≤80% 額定電壓,確保電容在安全的電壓范圍內(nèi)工作。

            新增機(jī)械應(yīng)力防護(hù)條款:在 MLCC 的實(shí)際應(yīng)用中,機(jī)械應(yīng)力是導(dǎo)致其失效的重要因素之一。1206 封裝是保障 MLCC 減小機(jī)械應(yīng)力失效時(shí)能夠接受的最大物理尺寸。即使是小封裝的 MLCC,同樣容易受到機(jī)械應(yīng)力的影響而導(dǎo)致失效 ,因此需要對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行優(yōu)化。在設(shè)計(jì)時(shí),≥1206 封裝的 MLCC 需采用淚滴焊盤,通過(guò)這種設(shè)計(jì)可以有效增強(qiáng)焊盤與線路之間的連接強(qiáng)度,分散機(jī)械應(yīng)力,從而降低因機(jī)械應(yīng)力導(dǎo)致的 MLCC 失效風(fēng)險(xiǎn),提升電容在復(fù)雜機(jī)械環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。




            關(guān)鍵詞: 電容 無(wú)源器件

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