三星否認自家 HBM 內存芯片未通過英偉達測試,“正改善質量”
5 月 27 日消息,此前有消息稱三星電子最新的高帶寬內存(HBM)芯片尚未通過英偉達測試,有“知情人士”表示,該公司的芯片因發(fā)熱和功耗問題而受到影響。
本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/202405/459194.htm不過據韓媒Business Korea 報道,三星電子發(fā)布聲明否認了相關報道,該公司聲稱他們正在與多家全球合作伙伴“順利進行 HBM 芯片測試過程”,同時強調“他們正與其他商業(yè)伙伴持續(xù)合作,以確保產品質量和可靠性”。
三星最近開始批量生產其第五代 HBM 芯片 ——24GB(8-Hi)/ 36GB(12-Hi)的 HBM3E 產品。在目前已量產的 HBM3E上,三星并未像競爭對手SK海力士、美光那樣采用1b nm制程DRAM裸片,而是仍使用1a nm顆粒,在能耗方面處于劣勢。加上本次出現(xiàn)的相關負面輿論,這導致一些分析師懷疑三星“是否有能力從 SK海力士處迅速奪回市場份額”。
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