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      基于FPGA的NAND Flash的分區(qū)續(xù)存的功能設計實現(xiàn)

      作者:曾鋒,徐忠錦(北京青云航空儀表有限公司,北京 101399) 時間:2023-08-19 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
      編者按:傳統(tǒng)的控制器只能從NAND Flash存儲器的起始位置開始存儲數(shù)據(jù),會覆蓋上次存儲的數(shù)據(jù),無法進行數(shù)據(jù)的連續(xù)存儲。針對該問題,本文設計了一種基于FPGA的簡單方便的NAND Flash分區(qū)管理的方法。該方法在NAND Flash上開辟專用的存儲空間,記錄最新分區(qū)信息,將剩余的NAND Flash空間劃成多個分區(qū)。本文給出了分區(qū)工作機理以及分區(qū)控制的狀態(tài)機圖,并進行了驗證。


      本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/202308/449749.htm

      0 引言

      隨著現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展,越來越多的系統(tǒng)采用芯片實時記錄數(shù)據(jù), 越來越大的容量讓系統(tǒng)可以存儲更大量的數(shù)據(jù)和更長的時間。但是,隨著系統(tǒng)的變得復雜,對數(shù)據(jù)的存儲也提出了更高的要求。傳統(tǒng)的 控制器每次存儲都是從Flash 的零地址開始,本次存儲任務結(jié)束后,當系統(tǒng)再次開啟存儲后,再次從零地址開始存儲。新的數(shù)據(jù)會寫覆蓋之前的數(shù)據(jù),無法實現(xiàn)數(shù)據(jù)的續(xù)存,使得NAND Flash使用起來十分不便;而且數(shù)據(jù)反復地從零地址開始存儲,造成NAND Flash存儲器的使用上的不均衡,影響其壽命[1]。

      本文提出了一種基于的NAND Flash 續(xù)存功能的控制器實現(xiàn)方法:NAND Flash控制器根據(jù)控制對象的特點,將NAND Flash劃分多個,利用其自身的某一空間記錄最新的地址信息,控制器在初始化時通過讀取最新的分區(qū)地址信息,自動跳過該分區(qū),在下一分區(qū)開始存儲,同時更新最新的分區(qū)地址信息。通過這種方法,可以靈活地實現(xiàn)NAND Flash 控制器分區(qū)續(xù)存的功能,解決了數(shù)據(jù)不能續(xù)存的問題,同時也解決了NAND Flash 存儲器的使用的不均衡的問題。

      1 電路說明

      NAND Flash芯片使用型號是三星公司的K9K8G08U0A,單片容量為1 G x 8 Bit。該芯片總共有8 192 個塊(Block),每個塊中含有64 頁(Page),每頁共2112 個字節(jié)(前2 048 個主存儲空間+64 個擴展空間)。芯片容量結(jié)構(gòu)如圖1 所示。

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      圖1 NAND Flash內(nèi)部存儲空間結(jié)構(gòu)圖

      使用型號為Xilinx 公司Virtex II 系列的XC2V1000,芯片內(nèi)部有5 120 個Slice、40 個乘法器、720 kbit 的RAM 模塊資源、320 個用戶I/O 引腳。

      2 NAND Flash控制器設計

      2.1 控制器概述

      NAND Flash 控制器結(jié)構(gòu)框圖如圖2 所示,一共分為應用層和接口層2 部分,接口層負責與NAND Flash的讀、寫,擦操作的接口;應用層負責調(diào)用接口層模塊,同時完成NAND Flash 控制器的控制功能,分區(qū)續(xù)存功能設計在工作控制模塊中[2]。

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      圖2 控制器結(jié)構(gòu)框圖

      2.1.1 分區(qū)設計

      本型號NAND Flash 一共有8 192 個塊,塊地址從0~8 191。其中塊0、塊 1 用作狀態(tài)存儲區(qū),其中塊0 用于壞塊表的存儲,塊1 用于存儲本次數(shù)據(jù)記錄用到的最新分區(qū)的地址信息;塊2~ 塊8 191 作用數(shù)據(jù)存儲區(qū),共計8 190 個塊,在本設計中,將這8 190 個塊分為10個分區(qū),分別為分區(qū)0~9,每個分區(qū)有819 個塊。分區(qū)設計結(jié)構(gòu)如圖3 所示[3]。

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      圖3 NAND Flash分區(qū)結(jié)構(gòu)

      數(shù)據(jù)存儲區(qū)的每個分區(qū)的和結(jié)束地址見表1。

      表1 分區(qū)與結(jié)束地址

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      2.1.2 分區(qū)工作機理

      NAND Flash 控制器上電后,需要先讀取到上一次存儲的NAND Flash 的分區(qū)地址信息,所以需要有一塊專門的空間用于存儲該地址[4-5]。在本設計中,利用NAND Flash 的塊1 的第0 頁專門的用于存儲該地址信息,使用分區(qū)的作為分區(qū)的地址信息。

      最新分區(qū)的地址信息需要動態(tài)更新??刂破鳙@取起始地址信息后,根據(jù)分區(qū)大小,自動計算出下一分區(qū)的首地址作為本次存儲操作的起始地址??刂破飨葘⒂嬎愫蟮钠鹗嫉刂沸畔⒏轮翂K1 的第0 頁處,然后從計算后的起始地址開始,進行數(shù)據(jù)存儲操作。當數(shù)據(jù)存儲操作超過本次分區(qū)的地址范圍,則控制器在跨分區(qū)時,再次計算出下一分區(qū)的起始地址,并更新最新分區(qū)地址至塊1 的第0 頁處,從而實現(xiàn)了最新分區(qū)起始地址的實時更新[6]。

      2.1.3 分區(qū)地址的存儲

      NAND Flash 存儲器塊1 中的第0 頁為最新分區(qū)的首地址存儲區(qū),存儲的數(shù)據(jù)格式如圖4 所示。第0 頁的第0、1 字節(jié)為最新分區(qū)首地址;第0 頁的其他的數(shù)據(jù)皆為0xCB,該數(shù)據(jù)用于大量數(shù)據(jù)讀取時的檢索,能夠方便地找到最新分區(qū)的首地址存儲區(qū)。

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      圖4 分區(qū)信息存儲結(jié)構(gòu)

      由于塊1 反復地被更新寫入最新分區(qū)的起始地址,需要估算塊1 的使用壽命:本次應用中,根據(jù)系統(tǒng)的要求,要存儲的數(shù)據(jù)量為每間隔5 ms 存儲256 個字節(jié),可計算得到存儲的數(shù)據(jù)量為51 kbit/s,則存滿1 頁需要40 ms,存滿1 塊需要2.56 s,存滿1 個分區(qū)需要約38 min, 即大約每隔38 min 就要對塊1 進行1 次寫操作。根據(jù)NANDFlash 壽命按10 萬次寫操作計算[7],則NAND Flash 塊1 在本系統(tǒng)中的使用時長約為6.3 萬h,能夠滿足正常的使用需求。

      2.1.4 分區(qū)狀態(tài)機的設計

      根據(jù)分區(qū)機理, 的工作控制模塊設計了分區(qū)相關(guān)的狀態(tài)機,狀態(tài)機流程如圖5 所示,狀態(tài)跳轉(zhuǎn)如下:上電后,狀態(tài)機從狀態(tài)1 跳轉(zhuǎn)至狀態(tài)2,判斷初始化是否結(jié)束。等待初始化結(jié)束后,狀態(tài)機跳轉(zhuǎn)至狀態(tài)3,讀取塊1的第0 頁中的數(shù)據(jù),得到上一次的分區(qū)信息;在狀態(tài)4 中計算中更新本次要操作的最新的分區(qū)地址。狀態(tài)機依次跳轉(zhuǎn)至狀態(tài)5、6,將更新后的最新分區(qū)地址寫入塊1 的第0 頁,且更新本次操作的塊地址。狀態(tài)機跳轉(zhuǎn)至狀態(tài)6,進行正常的數(shù)據(jù)存儲操作。狀態(tài)7、8,9 為正常的連續(xù)寫操作狀態(tài)。狀態(tài)10 時判斷是否超出本分區(qū),如果超出,則跳轉(zhuǎn)至狀態(tài)4 重新計算并更新分區(qū)地址,否則跳轉(zhuǎn)至狀態(tài)6 繼續(xù)存儲數(shù)據(jù)。

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      圖5 狀態(tài)機轉(zhuǎn)換圖

      當電路下電,再次上電后,狀態(tài)機會跳過上一次操作的分區(qū),從下一分區(qū)開始存儲數(shù)據(jù),保證了數(shù)據(jù)存儲的連續(xù)性,前一次的存儲的數(shù)據(jù)不會被本次數(shù)據(jù)覆蓋,本次數(shù)據(jù)前一次操作的分區(qū)的下一分區(qū)進行存儲。

      3 驗證情況

      驗證的電路框圖如圖6 所示。在NAND Flash控制器中進行驗證,分區(qū)功能嵌入在工作控制模塊中,在FPGA 中設計1 個模擬數(shù)據(jù)源,模擬系統(tǒng)發(fā)送的數(shù)據(jù),每隔5 ms 寫入256 個字節(jié)數(shù)據(jù);通過維護串口與上位機進行通信,可以通過上位機啟動控制器工作和停止,讀取塊1 的數(shù)據(jù)等[8]

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      圖6 壞塊表模塊驗證電路框圖

      驗證內(nèi)容分為兩部分,首先為不跨分區(qū)的自動續(xù)存功能驗證,其次為跨分區(qū)的自動續(xù)存功能驗證。

      不跨分區(qū)驗證時,驗證的存儲時長約為1 min。先通過維護串口與上位機發(fā)送讀取命令,先讀取塊1 的數(shù)據(jù),得到本次存儲前的最新分區(qū)信息,然后發(fā)送存儲命令,1 分鐘后直接下電重啟,再次讀取塊1 的數(shù)據(jù),對比第2 次讀到的最新分區(qū)信息,如圖7 所示。存儲前分區(qū)信息為0×0CCE,即分區(qū)4。存儲后分區(qū)信息為0×1001,即分區(qū)5。說明本次存儲的數(shù)據(jù)在分區(qū)5,成功跳過了分區(qū)4,分區(qū)4 為上一次存儲的空間。

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      圖7 不跨分區(qū)試驗結(jié)果

      跨分區(qū)驗證的存儲時長約為45 min,大于38 min,以確保存儲的數(shù)據(jù)能夠超過1 個分區(qū)。先通過上位機發(fā)送讀取命令,先讀取塊1 的數(shù)據(jù),得到本次存儲前的最新分區(qū)信息,然后發(fā)送存儲命令,45 分鐘后下電重啟,再次讀取塊1 的數(shù)據(jù),對比第2 次讀到的最新分區(qū)信息,如圖8 所示。存儲前分區(qū)信息為0×1001,即分區(qū)5。存儲后分區(qū)信息為0×1667,即分區(qū)7。說明本次存儲的數(shù)據(jù)在分區(qū)6 和分區(qū)7,成功實現(xiàn)了跨過分區(qū)的存儲和更新了最新分區(qū)地址信息。

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      圖8 跨分區(qū)試驗結(jié)果

      綜上,通過實驗證明,本文設計的基于FPGA 的自動分區(qū)續(xù)存功能夠正確地實現(xiàn),方法簡單便捷,滿足系統(tǒng)對NAND Flash 存儲器芯片的多次存儲的控制需求。

      4 結(jié)束語

      本文提出了一種基于FPGA 的自動分區(qū)續(xù)存功能的方法,該方法簡單方便的實現(xiàn)了存儲器的分區(qū)管理,滿足了數(shù)據(jù)分區(qū)續(xù)存的需求,并得到了試驗證明。該方法的分區(qū)續(xù)存功能準確可靠,目前已經(jīng)在實際產(chǎn)品中得到了應用和驗證。

      參考文獻:

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      [2] 劉俊.基于FPGA的FLASH控制器設計[J].電子技術(shù)與軟件工程,2016,23(11).

      [3] 任勇峰,周濤.基于Flash的侵徹關(guān)鍵信號分區(qū)存儲方法[J].探測與控制學報,2015,37(5).

      [4] 李遠哲,賀海文.嵌入式系統(tǒng)大容量NANDFlash存儲器分區(qū)管理設計[J].計算機測量與控制,2019,2.

      [5] 濮建福, 李世健.延長E E PROM使用壽命的均勻磨損算法[J].電子設計工程,2016,24(8).

      [6] 鄒姍蓉,李杰.基于FPGA的智能分區(qū)存儲系統(tǒng)設計[J].電子器件,2016,39(6).

      [7] 張卓,任家峪.一種基于NAND Flash基帶數(shù)據(jù)模擬源的設計與實現(xiàn)[J].太赫茲科學與電子信息學報,2016,14(5).

      [8] 張子明, 吳海建, 等. 基于F P G A的閃存XX29F系列讀寫裝置的設計[J].測控技術(shù),2016,35(7).

      (本文來源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2023年8月期)



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