隨著智能物聯(lián)的發(fā)展，單一節(jié)點測溫已不滿足實際需求，而分布式測溫因能更全面地反映溫度的變化，逐漸被重視起來。目前，分布式測溫大多采用多通道鉑電阻進行溫度采集，那么，我們如何快速實現(xiàn)它？

分布式測溫，簡單來說就是在局部區(qū)域內同時采集多個節(jié)點的溫度數(shù)據(jù)，能更好地掌控該區(qū)域內的溫度變化和分布，可用熱電偶、鉑電阻實現(xiàn)。相對于熱電偶，鉑電阻測溫范圍和精度更能滿足許多行業(yè)運用，而采用了多通道鉑電阻進行溫度采集的分布式測溫，不僅測溫更精確、更全面、更穩(wěn)定，而且性價比也更高。在許多新興產業(yè)都有廣泛應用，如鋰電、充電樁等行業(yè)。

多通道鉑電阻測溫如何實現(xiàn)

在實現(xiàn)多通道鉑電阻溫度采集之前，我們先簡單了解鉑電阻溫度采集原理，鉑電阻的阻值隨溫度變化而變化，且成線性關系，知道電阻值就可知道被測點的溫度值。以二線制單通道鉑電阻溫度采集為例，如下圖 1，給鉑電阻RPT施加激勵電流IDC會在其兩端產生壓差VPT，MCU通過模數(shù)轉換器ADC獲取RPT兩端產生的壓差VPT，并對壓差VPT進行計算得到RPT阻值及其對應溫度。

圖1 鉑電阻測溫原理

通過上述單通道的鉑電阻溫度采集原理講解，可能大家已經(jīng)想到了如何實現(xiàn)多通道鉑電阻溫度采集的方法，也許你會說：這不是很簡單？將多個單通道的電路并聯(lián)到一起不就是多通道嘛！其實，小編這里有更簡單的多通道實現(xiàn)方法，就是在ADC與鉑電阻RPT之間增加模擬開關進行多通道切換，就可實現(xiàn)多通道鉑電阻的溫度采集。電路共用一顆ADC，不僅不影響性能，還大大節(jié)約了物料成本，何樂而不為。

如下圖 2，通過模擬開關實現(xiàn)多通道鉑電阻測溫。

圖2 鉑電阻多通道測溫原理

多通道鉑電阻測溫有那些難點

采用模擬開關切換方式實現(xiàn)多通道鉑電阻的溫度采集，雖然物料成本相對較低，便于實現(xiàn)，但要達到不影響性能和穩(wěn)定性，需克服在開發(fā)過程中存在的許多難點。

●   模擬開關管的漏電流會降低測溫精度，尤其是在高溫條件下，需要進行補償；

●   多通道開關切換會帶來模擬信號響應問題，需要反復調整參數(shù)和測試，開發(fā)周期長；

●   性能達標需要完整的測試體系和設備，如高低溫箱、高精度源表等設備；

●   多通道測溫通道間容易相互干擾，需要在硬件和軟件算法上進行優(yōu)化；

●   鉑電阻的線阻也會降低測溫精度，需在硬件設計上抵消線阻。

如何快速實現(xiàn)多通道溫度采集

圖3 八通道熱電阻溫度測量模塊ZAM6228

致遠電子ZAM6228是一款八通道鉑電阻溫度采集模塊，只需接入PT100鉑電阻，即可完成溫度采集。ZAM6228模塊每通道折算性價比高，外圍電路簡單易上手，提供可快速移植的驅動及例程，省掉許多復雜的設計與開發(fā)過程，能快速實現(xiàn)多通道鉑電阻溫度采集。下圖 3為ZAM6228外圍電路，支持二、三線制PT100鉑電阻多通道溫度采集，通過上下拉地址腳A0、A1輕松實現(xiàn)模塊級聯(lián)，一組I2C接口最高可讀取32通道鉑電阻的溫度數(shù)據(jù)。

圖4 ZAM6228外圍電路

模塊內置50Hz工頻信號陷波抑制功能，能有效降低工頻干擾。測溫精度可達0.02%±0.2℃，溫漂10ppm/℃，檢測范圍為-200~800℃。