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            中科院:硅集成驗證技術

            作者: 時間:2022-04-18 來源: 收藏

            中心硅集成驗證技術,聚焦于利用技術及設計、工藝、封測技術,實現(xiàn)多環(huán)節(jié)集成、交叉技術集成,解決高品質(zhì)、高精度、新工程技術的難題。尤其在硅基芯片+光、+生物、+MEMS等跨學科創(chuàng)新領域,形成了獨特的解決方案,并成功實現(xiàn)芯片功能驗證。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/202204/433141.htm

             設計與工藝集成                                

            ★  交叉技術方案                           

            ★  樣品試制                       

            ★  性能、良率分析                                

            ★  芯片代工                                 

            ★  中試                       

            ★  設計優(yōu)化                                           

            ★    芯片封測                               

            ★  量產(chǎn)

             



            關鍵詞: EDA UVS UV APS UVI EDMPro

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