中科院:硅集成驗證技術
EDA中心硅集成驗證技術,聚焦于利用EDA技術及設計、工藝、封測技術,實現(xiàn)多環(huán)節(jié)集成、交叉技術集成,解決高品質(zhì)、高精度、新工程技術的難題。尤其在硅基芯片+光、+生物、+MEMS等跨學科創(chuàng)新領域,形成了獨特的解決方案,并成功實現(xiàn)芯片功能驗證。
本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/202204/433141.htm★ 設計與工藝集成
★ 交叉技術方案
★ 樣品試制
★ 性能、良率分析
★ 芯片代工
★ 中試
★ 設計優(yōu)化
★ 芯片封測
★ 量產(chǎn)
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