近日一項名為 “一種終端及 Type C 接口防腐蝕方法”的華為專利曝光，專利提供了一種終端及 Type C 接口的防腐蝕方法。

專利摘要顯示，本申請?zhí)峁┮环N終端及 Type C 接口的防腐蝕方法，用于降低 Type C 接口中 CC 引腳與其它引腳之間發(fā)生電化學(xué)腐蝕的幾率。在終端中，處理器分別與運(yùn)動傳感器和接口芯片連接；接口芯片分別與處理器和第一 Type C 接口中的 CC 引腳連接；運(yùn)動傳感器，用于監(jiān)測終端的運(yùn)動狀態(tài)；處理器，用于根據(jù)運(yùn)動傳感器監(jiān)測到的終端的運(yùn)動狀態(tài)，在確定終端的運(yùn)動狀態(tài)由移動狀態(tài)進(jìn)入靜止?fàn)顟B(tài)時，控制接口芯片將第一 Type C 接口的 CC 引腳配置為低電平模式。

由移動狀態(tài)進(jìn)入靜止?fàn)顟B(tài)反應(yīng)出終端與外接設(shè)備斷開連接，在此情況下將 CC 引腳配置為低電平模式，可以降低 CC 引腳的有效電平，進(jìn)而降低 CC 引腳與其它引腳之間發(fā)生電化學(xué)腐蝕的幾率。

了解到，從上述摘要來看，其中運(yùn)動傳感器扮演著重要的角色，能夠監(jiān)測出終端是否在與外接設(shè)備斷開連接，當(dāng)然，作為一個專利，無法確定是否或何時能夠商業(yè)化。