·         作為Arm公司功能安全合作伙伴計(jì)劃的一部分，Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)采用了該公司全面的汽車 IP 組合

·         Mentor 推出了新的 BIST 解決方案，作為 Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)的一部分，可提供比傳統(tǒng)產(chǎn)品快 10 倍的系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試速度

西門子旗下業(yè)務(wù)Mentor 近日宣布推出一套全新的 Tessent? 軟件安全生態(tài)系統(tǒng)，即由 Mentor與其行業(yè)領(lǐng)先合作伙伴攜手提供的涵蓋最優(yōu)汽車 IC 測(cè)試解決方案的產(chǎn)品組合，該程序能夠幫助 IC 設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)滿足全球汽車行業(yè)日益嚴(yán)格的功能安全需求。

Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)功能強(qiáng)大，能夠替代其他基于封閉、單片和單源模型的同類程序。Mentor 的IC測(cè)試功能安全保證的開放式生態(tài)系統(tǒng)方法使得芯片制造商可以將 Mentor 業(yè)界領(lǐng)先的 IC 測(cè)試技術(shù)與其它先進(jìn)的解決方案相結(jié)合，從而構(gòu)建一套更加完整、性能更高的解決方案。

西門子旗下業(yè)務(wù)Mentor 的Tessent產(chǎn)品系列副總裁兼總經(jīng)理Brady Benware表示：“快速的系統(tǒng)內(nèi) IC 測(cè)試性能有助于縮短從故障檢測(cè)到片上安全機(jī)制啟動(dòng)的時(shí)間。為提高 IC 測(cè)試性能，汽車 IC 的設(shè)計(jì)人員需要緊密結(jié)合包括 DFT 和非 DFT 技術(shù)在內(nèi)的所有片上安全機(jī)制，而這種方法正是 Mentor Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)的基礎(chǔ)?！?/p>

Mentor 推出 Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)旨在與眾多行業(yè)領(lǐng)先的合作伙伴通力合作，實(shí)現(xiàn)快速擴(kuò)展。該生態(tài)系統(tǒng)包括：

·         Mentor 的業(yè)界領(lǐng)先的內(nèi)建自測(cè)試 (BIST) 技術(shù)，包括新型 Tessent LBIST with Observation Scan Technology (LBIST-OST) 解決方案，能夠大幅減少汽車 IC 中數(shù)字邏輯組件的系統(tǒng)內(nèi)監(jiān)控的運(yùn)行時(shí)間。新的 Tessent LBIST-OST 解決方案能夠幫助客戶滿足嚴(yán)格的汽車功能安全需求，與傳統(tǒng)的LBIST 技術(shù)相比，可使系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試時(shí)間縮減高達(dá) 10 倍。

·         Tessent? MemoryBIST 具有全面的自動(dòng)化流程，可提供 RTL 或門級(jí)的設(shè)計(jì)規(guī)則檢查、測(cè)試規(guī)劃、集成和驗(yàn)證。Tessent MemoryBIST 具有分層架構(gòu)，因此可將 BIST 和自修復(fù)功能添加到單個(gè)內(nèi)核和頂層。 

·         Tessent? MissionMode 產(chǎn)品將自動(dòng)化功能與片上 IP 組合在一起，讓用戶在車輛正常運(yùn)行的過程中可以隨時(shí)對(duì)整個(gè)汽車電子系統(tǒng)中的半導(dǎo)體芯片進(jìn)行測(cè)試和診斷。

·         Tessent? DefectSim晶體管級(jí)缺陷仿真器，用于模擬、混合信號(hào) (AMS) 和非掃描數(shù)字電路。Tessent DefectSim可測(cè)量缺陷覆蓋率和容差，是高產(chǎn)量和高可靠性 IC 的理想選擇。

·         Mentor 參與了 Arm^? 功能安全合作伙伴計(jì)劃 (AFSPP)。Mentor Tessent^? Safety 生態(tài)系統(tǒng)利用了 Arm Safety Ready IP 功能，例如 Cortex^?-R52 處理器，將實(shí)時(shí)執(zhí)行與任何 Arm 處理器中最高水平的集成功能安全能力相結(jié)合，采用先進(jìn)的超級(jí)監(jiān)控程序技術(shù)來簡(jiǎn)化軟件集成，并通過強(qiáng)大的分離功能來保護(hù)安全關(guān)鍵代碼。

·         Mentor 的汽車級(jí)自動(dòng)測(cè)試向量生成 (ATPG) 技術(shù)，可檢測(cè)出通常被傳統(tǒng)測(cè)試向量和故障模型遺漏的晶體管級(jí)和互連級(jí)缺陷。

·         與 Mentor 的 Austemper SafetyScope 和 KaleidoScope 產(chǎn)品緊密關(guān)聯(lián)，這些產(chǎn)品添加了最先進(jìn)的安全分析、自動(dòng)校正和故障仿真技術(shù)，可解決隨機(jī)硬件故障。Austemper 技術(shù)可以分析設(shè)計(jì)人員 RTL 中的故障和漏洞，并通過智能的故障注入來幫助安全機(jī)制有計(jì)劃地對(duì)覆蓋的故障做出反應(yīng)。通過并行化和分布式操作方法，專有加速算法可實(shí)現(xiàn)比標(biāo)準(zhǔn)門級(jí)故障注入技術(shù)高出許多數(shù)量級(jí)的速度。

瑞薩電子(Renesas) 在早期就采用了 Mentor Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)，在其設(shè)計(jì)一款新型汽車處理器時(shí)評(píng)估了 Mentor 最新推出的 Tessent LBIST-OST 解決方案。

“利用Tessent LBIST-OST 解決方案中的 Observation Scan 技術(shù)，我們能夠?qū)⑾到y(tǒng)內(nèi)LBIST 的測(cè)試時(shí)間縮減 5 倍，從而實(shí)現(xiàn)了更快的覆蓋率提升，”Renesas Electronics Corporation 物聯(lián)網(wǎng)和基礎(chǔ)設(shè)施事業(yè)部共享研發(fā) EDA 業(yè)務(wù)部數(shù)字設(shè)計(jì)技術(shù)部門總監(jiān) Hideyuki Okabe 表示，“這使我們能夠在將 LBIST 用作安全機(jī)制的同時(shí)縮短容錯(cuò)時(shí)間間隔 (FTTI)，并提高檢測(cè)到汽車產(chǎn)品新缺陷時(shí)的安全響應(yīng)。我們期望將這項(xiàng)技術(shù)繼續(xù)應(yīng)用在我們的汽車產(chǎn)品之中?！?/p>