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            在下一代嵌入式系統(tǒng)設計中采用平行測試測略

            作者: 時間:2018-09-05 來源:網(wǎng)絡 收藏

            嵌入式設計正面臨一種有趣的兩難抉擇:系統(tǒng)更加復雜,但時間日益緊迫,且對質量的要求更高。今天的嵌入式裝置擁有較過去更豐富的功能,由FPGA、微處理器、相機與運動傳感器構成的系統(tǒng),可控制從自主樂高機器人到CERN的大型強子碰撞器等裝置。這些設備往往受到安全監(jiān)控并具備大量軟件,傳統(tǒng)的黑盒測試不太有效,這一度在嵌入式設計中形成了可怕的驗證與測試瓶頸。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/201809/388429.htm

            傳統(tǒng)測試方法顯然無法滿足需求,工程師與嵌入式開發(fā)人員沒有時間進行手動測量,也無法冒著可能在最終制造過程才發(fā)現(xiàn)關鍵缺陷的風險。同時,亞洲市場也帶來了獨特挑戰(zhàn),如必須整合全球各地的開發(fā)周期,以及激烈的成本壓力。因此,嵌入式設計師需要創(chuàng)新的工具、技術和方法學。若沒有新工具,嵌入式設計師就必須成為測試專家。

            好消息是,許多技術可協(xié)助此一過程。從新的數(shù)據(jù)總線、多核心處理器到同步執(zhí)行軟件,都帶給嵌入式設計師新的希望。開發(fā)人員現(xiàn)在可透過平行處理與平行測量實現(xiàn)更快的測試。向多核心處理器的轉移可消除由傳統(tǒng)循序式單核心測試平臺造成的時間約束。這讓擁有合適工具的工程師與科學家能以平行方式處理并分析數(shù)據(jù)。本質上,像NI LabVIEW這類平行軟件語言能讓執(zhí)行在多核心系統(tǒng)上的應用大幅提升效能,且?guī)缀醪槐馗某绦虼a。

            如果工程師能采用平行處理,他們還會要求更有效率的測量。平行測試需要系統(tǒng)的每個子組件,而非僅需要處理組件,以支持平行模式。最通用的數(shù)據(jù)傳輸總線如PCI、USB、LAN、GPIB等都無法支持真實的平行數(shù)據(jù)傳輸模式,因為總線上的組件會共享頻寬。隨著任務數(shù)量的增加,分配給每個任務的可用頻寬正在減少。工程師可透過選擇能支持專用頻寬的數(shù)據(jù)總線如PCI Express來消弭此一瓶頸。

            盡管PCI Express開發(fā)了許多應用程序,以便在主機端采用軟件處理,但最新的高速數(shù)字電子軟件也許仍需常駐在其本身的硬件內以實現(xiàn)實時響應。FPGA可提供最佳化解決方案,因為它們運用軟件定義了硬件能力,因此能以硬件速度做出響應。舉例來說,LabVIEW可針對板上FPGA應用,并合成了直接來自圖形化軟件的所需硬件。

            未來的嵌入式設計正朝更高效率的方向發(fā)展,許多開發(fā)商將運用整合式系統(tǒng)設計平臺實現(xiàn)其設計與測試。圖形化系統(tǒng)設計可提供商用化的現(xiàn)成軟硬件平臺,讓開發(fā)商使用同樣直觀的軟件進行設計與測試,并運用靈活的硬件平臺來驗證設計、原型并進行測試。



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