高速串行通訊接口，例如SuperSpeed USB和PCIe，已經(jīng)進(jìn)入很多電路設(shè)計(jì)。開(kāi)發(fā)人員需要方便易用的工具來(lái)支持此類接口的電路調(diào)試。羅德與施瓦茨公司推出了針對(duì)此類應(yīng)用緊湊完整的測(cè)試方案。該方案由R&S RTO2064示波器、支持眾多接口標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試選件以及R&S RT-ZM寬帶模塊化探頭組成。最新的測(cè)試選件支持SuperSpeed USB (USB3.1 Gen1)、PCIe 1.1/2/0和USB-PD協(xié)議觸發(fā)和解碼，同時(shí)支持PCIe 1.1/2.0的一致性測(cè)試。

　　詳實(shí)的協(xié)議分析，細(xì)節(jié)一目了然

　　全新的觸發(fā)和解碼選件幫助用戶輕松發(fā)現(xiàn)SuperSpeed USB、PCIe 2.0和USB-PD傳輸中的錯(cuò)誤。這些選件可以對(duì)用戶定義的協(xié)議事件進(jìn)行觸發(fā)和解碼，借助R&S RTO2000系列示波器完成與協(xié)議觸發(fā)事件時(shí)間相關(guān)的時(shí)頻域測(cè)試分析，使故障原因一目了然。分析結(jié)果也可通過(guò)具備協(xié)議細(xì)節(jié)和相關(guān)時(shí)間標(biāo)簽的表格顯示。同時(shí)，全新選件還具備對(duì)不同協(xié)議層進(jìn)行分析的能力。例如，為了追溯協(xié)議錯(cuò)誤到最底層的bit層，用戶可以選擇Bit位顯示、符號(hào)顯示或具有特定幀起始、地址和數(shù)據(jù)的協(xié)議顯示。利用這一強(qiáng)大工具，用戶可以實(shí)現(xiàn)快速的協(xié)議調(diào)試和分析。

　　PCIe 1.1/2.0物理層一致性測(cè)試

　　針對(duì)PCI Express，羅德與施瓦茨公司擴(kuò)展了一致性測(cè)試套件支持PCIe 1.1/2.0標(biāo)準(zhǔn)。分析軟件基于PCI-SIG標(biāo)準(zhǔn)，支持標(biāo)準(zhǔn)定義的信號(hào)完整性分析。測(cè)試選件可實(shí)現(xiàn)高達(dá)2.5Gbps信號(hào)的物理層一致性驗(yàn)證。

　　全新的R&S RTO-K61 USB3.1 Gen1協(xié)議觸發(fā)和解碼、R&S RTO-K72 PCIe 1.1/2/0協(xié)議觸發(fā)和解碼以及R&S RTO-K81 PCIe 1.1/2.0物理層一致性測(cè)試選件支持6GHz 帶寬RTO2064示波器。同時(shí)還推出了R&S RTE/RTO-K63 USB-PD協(xié)議觸發(fā)和解碼選件。上述選件于2017年3月14日開(kāi)幕的Embedded World 2017紐倫堡國(guó)際嵌入式應(yīng)用展覽會(huì)上正式發(fā)布。