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            高成本效益的實用系統(tǒng)方法解決QFN-mr BiCMOS器件單元測試電源電流失效問題

            作者: 時間:2017-03-06 來源:網絡 收藏

              總結:

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/201703/344836.htm

              a. 泄漏

              - 意法半導體卡蘭巴工廠(0.202%)好于外包廠1的生產批次(0.295%),外包廠2為 0.178%.

              b. 電源電流

              - 意法半導體卡蘭巴工廠(0.674%)好于外包廠2的生產批次(1.25%),外包廠1為 0.314%.

              c. Over-all short (SBL 0.5%)

              - 意法半導體卡蘭巴工廠(0.071%)好于外包廠1的生產批次(0.218%)和外包廠2的1.261%。

              3.8 改正預防措施

              為將取得的改進效果保持下去,需要落實下面的措施并密切監(jiān)視落實情況:

               

              圖21:改正預防措施矩陣

              3.9 文檔資料

              所有分析活動和知識都寫成文檔保存,以便在產品量產期間參考??刂品桨?、FMEA、作業(yè)指導、包括烘烤的新流程均制成文檔保存。

               

              圖22:文檔資料名單

              3.10 推廣方案

              為了最大限度利用這個研發(fā)項目的價值,需要將項目組在研究過程中所積累的全部知識經驗推廣到其它的產品制造過程。

               

              圖23:推廣表

              3.11 成本節(jié)省

              在對改正措施的效果進行驗證后,項目組還估算了這些措施可以節(jié)省的成本。

               

              經意法半導體卡蘭巴工廠IE核準,總計節(jié)省成本38.251萬美元。

              4.0 結論

              本文論述了深度分析統(tǒng)計方法可有效解決最終測試過程中的電源電流失效問題。運用統(tǒng)計分析知識和對數(shù)據(jù)和缺陷現(xiàn)象的了解,有助于找到缺陷的真正根源。綜合試驗設計降低了水刀工藝對電流失效的負面影響。引入烘烤工序顯著降低了單元電測試期間的電流抑制比發(fā)生率。失效率連續(xù)降低以及產品電測試良率總體提高,充分證明了驗證糾正措施的正確性及其效果。

              5.0 建議

              建議長期落實已認可的糾正措施,以穩(wěn)定電源電流性能。六個西格馬方法論(逐步深挖問題,識別并驗證問題根源,在使用現(xiàn)有資源且不大幅增加成本的前提下取得大幅改進)是解決制造難題的有效手段,在解決類似問題中應該推廣這種方法。同時還推薦連續(xù)標桿分析法,這有助于企業(yè)改進流程,躋身業(yè)界前列。

              6.0 鳴謝

              本文作者向下列人士致以最真誠的謝意: Jun Bernabe、Mariver Limosinero、Addonyz Antonio以及封裝部門的全體同仁,感謝他們在這個項目中給予的全力支持。

              我們的家人、朋友、同事、同仁,這個項目的成功離不開他們的全力支持。

              特別感謝我們全能的真主,始終保佑我們事業(yè)發(fā)展,生活如意。

              7.0 參考文獻

              1. IC Assembly handbook

              2. BSA (Build Sheet Assembly)

              3. SAS – JMP

              4. Water jet Machine Manual

              5. Package Portfolio & Technology Roadmap

              8.0 關于作者

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              Antonio ‘Dhon’ Sumagpang畢業(yè)于菲律賓科技大學(馬尼拉校區(qū))電氣工程專業(yè)(BSEE) ,學士學位。在半導體工業(yè)從業(yè)16年,擁有豐富的實際經驗。在意法半導體卡蘭巴工廠不同封裝工序工作數(shù)年后,現(xiàn)任新產品導入高級工程師,新產品導入項目負責人。在第20屆和第25屆ANTS (ASEMEP國家技術研討會)上先后兩次榮獲最佳技術論文獎。在質量競賽中取得無數(shù)獎項,持有Green Belter證書。

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              Francis Ann “Pinky” Llana畢業(yè)于圣拉薩爾-巴科洛德大學化學工程(BSChE)專業(yè),學士學位,擁有18年的半導體工業(yè)從業(yè)經驗,現(xiàn)任意法半導體卡蘭巴工廠高級封裝工程師,負責濕法工藝,例如,銅層后工序蝕刻、化學去膠、凸點設計和電鍍,在地區(qū)和國家質量競賽中取得無數(shù)獎項,持有Green Belter證書。

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              Ernani D. Padilla畢業(yè)菲律賓東方大學,特許電子通信工程師,現(xiàn)任意法半導體卡蘭巴工廠高級技術工程師,領導制造流程工程攻關小組,擁有注塑和等離子工藝方面專長,持有Neville Clark的blackbelt證書。

              附錄A

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              附錄B

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              附錄C

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              附錄D

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              附錄E

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              附錄F

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              附錄G

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            關鍵詞: BiCMOS QFN-MR

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