2.將被測目標(biāo)從支架上移開，并測量支架的反射頻率掃描S21_（str）測量，如果目標(biāo)不便移開，可以將天線同時（包括發(fā)射天線和接收天線）轉(zhuǎn)到一個空曠位置，并保證在相同的距離上沒有其他物體存在。如圖10 中表示的校準(zhǔn)區(qū)域。

3.將頻率掃描S21_（str）結(jié)果轉(zhuǎn)換為時域，同時將時域門設(shè)置在目標(biāo)位置，并調(diào)節(jié)門寬將目標(biāo)的所有反射均包含在內(nèi)，將時域?yàn)V波后的結(jié)果保存至儀表內(nèi)存。

4.如果目標(biāo)無法從支架上移開，應(yīng)保證支架本身的反射S21_（str）較反射目標(biāo)低20dB以上（S21_（str）＋20dB<< S21_（tgt））。為達(dá)到此目的，可以采用在支架上包覆微波吸收材料的方法。

5.將標(biāo)準(zhǔn)物體置于目標(biāo)區(qū)域，測量標(biāo)準(zhǔn)物體頻率掃描的S21_（std），并將結(jié)果轉(zhuǎn)換為時域，同時將時域門設(shè)置在目標(biāo)位置，并調(diào)節(jié)門寬將目標(biāo)的所有反射均包含在內(nèi)，將時域?yàn)V波后的結(jié)果保存至儀表內(nèi)存。注意，標(biāo)準(zhǔn)物體的雷達(dá)散射截面應(yīng)接近目標(biāo)雷達(dá)散射截面。

6.將被測目標(biāo)置于目標(biāo)區(qū)域并移開標(biāo)準(zhǔn)物體，測量標(biāo)準(zhǔn)物體頻率掃描S21_（tgt），并將結(jié)果轉(zhuǎn)換為時域，同時將時域門設(shè)置在目標(biāo)位置，并調(diào)節(jié)門寬將目標(biāo)的所有反射均包含在內(nèi)，將時域?yàn)V波后的結(jié)果保存至儀表內(nèi)存。

7.雷達(dá)散射截面運(yùn)算方程：

這樣，， ，
由于 ，所以
因此， ，

如果支架的反射較大，并且標(biāo)準(zhǔn)物體也是放在支架上進(jìn)行校準(zhǔn)測量的。那么，

由于 已知，我們即可以得到 ，例如，

圖11 中的目標(biāo)與圖9中直徑為6英寸的校準(zhǔn)金屬球體相比較（參考光標(biāo)讀數(shù)），知道 ， ，，根據(jù)
，得到

圖11，測量一個直徑為12英寸的金屬球體的S21時域曲線

信號極化
反射信號的極化方向可能與雷達(dá)發(fā)射信號的極化方向不同，目標(biāo)的形狀不同反射的極化也會不同，見圖2 中的Et 和Er描述。
為了修正極化誤差，我們可以分別測量目標(biāo)在垂直和水平極化情況下的雷達(dá)散射截面，這樣我們就可以建立散射截面極化矩陣。所要做的是，在一種發(fā)射極化（垂直或水平）情況下，測量兩種極化（垂直和水平）的S參數(shù)。

極化矩陣


Et 與Er的關(guān)系為

這里Sxx為上面提到的4 種不同狀態(tài)測得的S參數(shù)
發(fā)射垂直極化，接收垂直極化
發(fā)射垂直極化，接收水平極化
發(fā)射水平極化，接收垂直極化
發(fā)射垂直極化，接收垂直極化

根據(jù)上面的描述，對于4 種狀態(tài)下得到的S參數(shù)，我們也可以推出類似的雷達(dá)散射截面矩陣

如果發(fā)射天線是垂直極化的，那么 ，并以此類推。