目前，大多數(shù)電子儀1N5391器是由IC（集成電路）和LSI（大規(guī)模集成電路）構(gòu)成，然而作為分立半導體元件的晶體三極管、二極管等仍被廣泛使用著。當電路發(fā)生故障時，首先要檢測元件是否良好以及是否性能惡化。對于三極管來說，常常要測量電流放大系數(shù)。方便地描繪其靜特性，對于求取電流放大系數(shù)是十分重要的。數(shù)字萬用表中設(shè)置了三極管插口，可用來簡單求取直流放大系數(shù)

圖5.32為三極管插口上插有2SC2320的矗FE測量的照片，三極管插口的測試條件為VCE =5V、IB—0.OlmA時，hFE為280。與圖5.28中求得hFE =333有較大差別的原因在于二者的測試條件不同，因此三極管的特性也有差異。