這臺測試系統(tǒng)的完成，大大簡化了測試儀的制作，測試儀內(nèi)只需要連線，不再需要各種功能板卡來模擬待測板的功能，對于測試儀的維護也更簡單方便。同時，它還提高了測試覆蓋率，不僅可覆蓋待測板95％以上的功能，還可檢測部分關鍵電阻、電容、電感等。對于集成度越來越高、測試點越來越少的待測板來說，測試覆蓋率要繼續(xù)保持90％以上不再是神話。

測試程序的開發(fā)

程序開發(fā)采用圖形化的編程語言——LabVIEW。傳統(tǒng)的功能測試儀是通過匯編語言在單片機里進行編程的。在調(diào)試時非常麻煩。而使用LabVIEW進行編程，能夠以直觀簡便的編程方式、眾多的源碼級設備驅(qū)動程序、多種多樣的分析和表達功能支持，為用戶快捷地構筑自己在實際生產(chǎn)中所需要的儀器系統(tǒng)創(chuàng)造了基礎條件。同時結合開發(fā)的測試系統(tǒng)，大大縮短了編程與調(diào)試時間。LabVIEW還提供了良好的人機界面，簡單易懂，使操作人員易于學習和操作。

Main Level(Man-Machine Interface)

該層采用State Machine架構，減少用戶配置軟件參數(shù)。所有State在Main VI中都加以有效的定義，測試方式采用自動測試，首先會讀取被測對象的參數(shù)和配置，然后由測試軟件判斷測試項目，從而進行自動測試。

Test Level(Data Flow Control)

該層按照產(chǎn)品的各項功能，將每個功能拆開分別編寫對應的標準TEST VI。然后由主程序來直接調(diào)用。這樣可以提高各測試單元軟件的編寫效率，避免同一功能編寫多種TESTVI。

Driver Level(Hardware Operation)

該層主要用于對底層硬件的直接驅(qū)動，避免在TEST VI中編寫繁瑣的板卡驅(qū)動程序，該驅(qū)動VI可以直接被TEST VI調(diào)用，可以在TEST VI中非常方便地使用板卡上的硬件資源。

測試軟件的管理

采用TestStand對測試軟件進行管理。NI TestStand是專為測試步驟序列的自動執(zhí)行而設計，這些測試步驟可以是單個測試、測量、動作或命令。任何需要自動執(zhí)行可執(zhí)行代碼段的應用，都可以使用NI TestStand而獲益。NI TestStand的設計解決了四個關鍵領域的問題：簡化與加速復雜序列的開發(fā)、提高代碼與測試程序的復用性和可維護性以及改進測試系統(tǒng)的執(zhí)行性能。

使用TestStand不僅簡化了測試儀開發(fā)階段的調(diào)試過程，同時在生產(chǎn)時可以記錄測試過程中的每一塊PCB板的測試結果，方便生產(chǎn)過程的控制，也方便維修人員對于故障的確認，節(jié)省了時間，提高了效率。

總結

目前，測試系統(tǒng)已投入生產(chǎn)，測試系統(tǒng)的研發(fā)成功驗證了NI公司的LabVIEW、TestStand及各模塊的強大功能。這也為我們研發(fā)測試系統(tǒng)節(jié)省了時間和成本。