圖7 OFDM星座圖提供的信息非常詳盡

星座圖（如圖7所示）能夠提供很多相關信息用作設計參考，通過相位、增益和功率壓縮等信息能夠幫助我們縮短產(chǎn)品設計周期和DVT（device verification testing）階段所需的時間。

如圖7所示，上左圖是一個理想的OFDM信號星座圖。上右圖給出了I/Q不平衡的情形（兩路基帶調(diào)制信號在上變頻之前幅度不一致，EVM變差）。下左圖給出了I/Q非理想正交的情形（兩路基帶信號在上變頻之前沒有實現(xiàn)完全正交，星座圖出現(xiàn)扭轉(zhuǎn)，EVM變差）。下右圖給出了幅值和相位同時失配的情形。

應用于制造

如前所述，當產(chǎn)品轉(zhuǎn)入制造測試階段，通常會假設產(chǎn)品的設計等都沒有問題。很多失效問題都來源于制造而非設計缺陷。因此，軟件不需要提供設計過程中的測試細節(jié)。面向制造測試階段的軟件設計目標是簡潔的GUI界面和快速的產(chǎn)品測試功能。

適用于制造測試的軟件，GUI界面簡潔，測試快速。單擊GUI界面中“測試按鈕”啟動測試，輸入DUT的MAC地址，軟件開始對DUT進行測試，最終窗口顯示測試細節(jié)和Pass或者Fail。研發(fā)和制造測試平臺采用相同的架構(gòu)，這樣做的好處是使某些可能在制造過程中出現(xiàn)的問題很容易被追溯到研發(fā)階段，不需要特別復雜的處理。研發(fā)和測試階段采用同樣的VSA和VSG硬件構(gòu)架和設置，這有利于簡化問題和加快問題的解決。

總結(jié)

本文介紹的系統(tǒng)測試平臺都是基于LitePoint公司的IQview和IQflex測試平臺，這款面向Wi-Fi的測試產(chǎn)品早已于 2003年被推出。目前，面向Wi-Fi和WiMAX的一個全新的測試平臺IQmax也已問世，它將幫助ODM廠商和大型制造商進一步節(jié)省產(chǎn)品研發(fā)和制造的時間與成本。