開(kāi)放式FPGA可增加測(cè)試的靈活性
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閉環(huán)測(cè)試：功放
在無(wú)線通信系統(tǒng)中，信號(hào)在發(fā)往天線之前需要用功放IC增加信號(hào)的強(qiáng)度。功放的性能規(guī)格通常是在特定的輸出功率電平點(diǎn)定義的。因此當(dāng)功放工作在這個(gè)輸出功率電平時(shí)對(duì)它們進(jìn)行測(cè)試就顯得非常重要。然而，功放的增益一般只是粗略的知道(比如±3dB)，而且在器件工作范圍內(nèi)是非線性的。你越接近最大輸出功率，增益就越低?；谶@些理由，在開(kāi)展任何性能測(cè)試之間你必須首先“調(diào)測(cè)”放大器的輸出。調(diào)測(cè)輸出經(jīng)常被稱為功率電平調(diào)整或功率伺服調(diào)整?；驹硎钦{(diào)整放大器的輸入功率，直到你測(cè)得正確的輸出功率。
測(cè)量功放的傳統(tǒng)測(cè)試裝置見(jiàn)圖3所示。矢量信號(hào)發(fā)生器(VSG)產(chǎn)生一個(gè)激勵(lì)波形給待測(cè)設(shè)備。功率計(jì)確保待測(cè)設(shè)備輸出正確的功率電平。最后由矢量信號(hào)分析義(VSA)測(cè)量待測(cè)設(shè)備的性能——如誤差矢量幅度(EVM)或相鄰?fù)ǖ拦β?ACP)。實(shí)際操作中需要針對(duì)各種中心頻率和功率電平重復(fù)這些測(cè)量。
圖3：用于測(cè)量功放輸出的傳統(tǒng)測(cè)試裝置包含有矢量信號(hào)發(fā)生器、矢量信號(hào)分析儀和功率計(jì)。
必須針對(duì)每個(gè)想要測(cè)試的中心頻率和功率電平調(diào)測(cè)功放的輸出功率。調(diào)測(cè)過(guò)程一般遵循以下這些步驟：
● 根據(jù)估計(jì)的待測(cè)設(shè)備增益選取一個(gè)起始的矢量信號(hào)發(fā)生器功率電平
● 設(shè)置矢量信號(hào)發(fā)生器的功率電平
● 等待矢量信號(hào)發(fā)生器穩(wěn)定工作
● 等待待測(cè)設(shè)備穩(wěn)定工作
● 用功率計(jì)進(jìn)行測(cè)量
如果功率在正確的范圍內(nèi)，退出。如果不在范圍內(nèi)，計(jì)算新的矢量信號(hào)發(fā)生器功率電平，回到步驟2重新開(kāi)始
整個(gè)調(diào)測(cè)過(guò)程可能要花幾百毫秒到幾秒的時(shí)間，具體取決于待測(cè)設(shè)備類型、要求的精度以及使用的儀器。調(diào)測(cè)過(guò)程完成后就可以用矢量信號(hào)分析儀開(kāi)展性能測(cè)量了。
圖4顯示了使用傳統(tǒng)方法將待測(cè)設(shè)備樣品輸出調(diào)整到平均輸出功率為28dBm的過(guò)程。如果功率放大器的增益是線性的，并且符合數(shù)據(jù)手冊(cè)中規(guī)定的典型增益，那么矢量信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的第一個(gè)點(diǎn)就將產(chǎn)生28dBm的輸出功率。然而放大器的實(shí)測(cè)輸出功率只有26.5dBm，這就表明了功放典型增益指標(biāo)的不精確性。隨后調(diào)整矢量信號(hào)發(fā)生器的輸出功率，由矢量信號(hào)分析儀捕獲另外一個(gè)輸出功率點(diǎn)。這次平均功率是27.6dBm，從中可以看出放大器增益響應(yīng)的壓縮過(guò)程?？傊?步、大約150ms的時(shí)間才使放大器的輸出達(dá)到想要的功率值。在這個(gè)例子中，待測(cè)設(shè)備的穩(wěn)定時(shí)間是每步10ms。但不同待測(cè)設(shè)備的穩(wěn)定時(shí)間是不同的，它將顯著影響總的調(diào)測(cè)時(shí)間。
圖4：傳統(tǒng)的功放輸出調(diào)測(cè)方法表明功率電平是漸次增加的。
矢量信號(hào)收發(fā)器(VST)是將矢量信號(hào)發(fā)生器、矢量信號(hào)分析儀和FPGA整合在一起的一種儀器。這種組合可以讓你將功率調(diào)測(cè)算法轉(zhuǎn)移到硬件中實(shí)現(xiàn)。即使沒(méi)有圖5中的功率計(jì)，你通常也可以執(zhí)行系統(tǒng)校準(zhǔn)步驟將功率計(jì)精度轉(zhuǎn)嫁給矢量信號(hào)分析儀。
圖5：矢量信號(hào)收發(fā)器將信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀和FPGA整合在一起。
調(diào)測(cè)功放輸出功率的步驟與傳統(tǒng)方法是類似的，只不過(guò)調(diào)測(cè)環(huán)路在開(kāi)放式FPGA中執(zhí)行。在FPGA中執(zhí)行環(huán)路可以顯著縮短每次調(diào)整所需的時(shí)間。
通過(guò)使用開(kāi)放式FPGA和硬件并在FPGA上實(shí)現(xiàn)控制環(huán)路，調(diào)測(cè)待測(cè)設(shè)備輸出功率的時(shí)間將遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于在主機(jī)電腦上執(zhí)行控制環(huán)路的時(shí)間。對(duì)于本例中的待測(cè)設(shè)備來(lái)說(shuō)，調(diào)測(cè)過(guò)程只用了5ms，而傳統(tǒng)方法需要150ms。需要注意的是，基于硬件的方法所需的步驟數(shù)比傳統(tǒng)方法多一步。但調(diào)測(cè)過(guò)程所需的總時(shí)間卻明顯減少。與圖4相比，圖6中的前幾個(gè)步驟完成得很快(平均時(shí)間較短)，然后點(diǎn)的間隔越來(lái)越大，因?yàn)檎{(diào)測(cè)環(huán)路正在收斂。
圖6：使用基于硬件的調(diào)測(cè)方法后，功率電平上升的時(shí)間要短于傳統(tǒng)方法。
信號(hào)處理
用戶可編程FPGA最有用的應(yīng)用之一是在儀器上減少必須傳回主機(jī)進(jìn)行后處理的數(shù)據(jù)量，從而釋放通信總線用于其它數(shù)據(jù)傳輸，同時(shí)減少CPU的負(fù)擔(dān)。用于這方面的常見(jiàn)方法包括復(fù)雜觸發(fā)、濾波、峰值檢測(cè)或?qū)Σ东@的數(shù)據(jù)集執(zhí)行快速傅里葉變換(FFT)。
例如在圖7中你可以看到有4個(gè)待測(cè)設(shè)備需要并行測(cè)試的應(yīng)用。模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)將樣本傳送給FPGA，但直到定制觸發(fā)器啟動(dòng)捕獲命令后數(shù)據(jù)才被捕獲。在捕獲數(shù)據(jù)時(shí)，F(xiàn)PGA會(huì)實(shí)時(shí)平均測(cè)量結(jié)果，然后將它們連續(xù)進(jìn)行記錄。然后在測(cè)量無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍(SFDR)、信噪比(SNR)和信號(hào)噪聲與失真比(SINAD)之前對(duì)記錄進(jìn)行快速傅里葉變換。這些結(jié)果只是來(lái)自ADC的的輸入信號(hào)數(shù)據(jù)的一部分，接下來(lái)將通過(guò)直接存儲(chǔ)器訪問(wèn)先入先出緩沖機(jī)制(DMA FIFO)上傳給主機(jī)。
評(píng)論