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            基于HARQ的TD-LTE基站性能測試技巧

            作者: 時間:2017-02-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
            0 引言

            LTE(Long Term Evolution長期演進)技術(shù)是第三代移動通信演進的主要方向。作為一種先進的技術(shù),LTE系統(tǒng)在提高峰值數(shù)據(jù)速率、小區(qū)邊緣速率、頻譜利用率、控制面和用戶面時延以及降低運營和建網(wǎng)成本等方面擁有巨大的優(yōu)勢。同時,LTE系統(tǒng)與現(xiàn)有系統(tǒng)(2G/2.5G/3G)能夠共存,并且實現(xiàn)平滑演進。

            LTE系統(tǒng)按照雙工方式分為頻分雙工(FDD)和時分雙工(TDD)兩種。其中LTE-TDD制式相對于FDD制式具有頻譜利用靈活、支持非對稱業(yè)務(wù)等諸多優(yōu)勢,是中國通信業(yè)界力推的國際標(biāo)準(zhǔn)。

            系統(tǒng)吞吐率是衡量TD-LTE基站綜合性能的重要指標(biāo)。吞吐率的測試需要基站(eNB)與測試儀器(模擬UE)之間實現(xiàn)實時反饋并動態(tài)調(diào)整。測試儀器不僅需要能夠生成符合3GPP標(biāo)準(zhǔn)的TD-LTE 上行信號,同時還需要模擬相應(yīng)的信道衰落模型,并且根據(jù)基站下發(fā)的ACK/NACK指令實時地調(diào)整發(fā)射信號的編碼冗余因子,以模擬真實的通信環(huán)境。本方案采用安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀N5106A PXB或安捷倫最新信號發(fā)生器N5182B/N5172B作為測試平臺,通過Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE測試信號并經(jīng)過信道衰落后送給基站進行解碼從而可以統(tǒng)計出基站的吞吐率。

            1 HARQ測試原理

            1.1 上行HARQ方式
            LTE系統(tǒng)將在上行鏈路采用同步非自適應(yīng)HARQ技術(shù)。雖然異步自適應(yīng)HARQ技術(shù)與同步非自適應(yīng)技術(shù)比較,在調(diào)度方面的靈活性更高,但是后者所需的信令開銷更少。由于上行鏈路的復(fù)雜性,來自其他小區(qū)用戶的干擾是不確定的,因此基站無法精確估測出各個用戶實際的信干比(SINR)值。由于SINR值的不準(zhǔn)確性導(dǎo)致上行鏈路對于調(diào)制編碼模式(MCS)的選擇不夠精確,所以更多地依賴HARQ技術(shù)來保證系統(tǒng)的性能。因此,上行鏈路的平均傳輸次數(shù)會高于下行鏈路。所以,考慮到控制信令的開銷問題,在上行鏈路使用同步非自適應(yīng)HARQ技術(shù)。

            1.2 上行HARQ時序
            LTE TDD制式的上下行信號在時域上交錯分布,因此其HARQ時序映射關(guān)系較FDD更為復(fù)雜。根據(jù)3GPP TS 36.213規(guī)定,TDD制式不同UL/DL Configuration下,下行子幀只在規(guī)定位置發(fā)送ACK/NACK指令,每個位置發(fā)送的ACK/NACK指令對應(yīng)特定的上行子幀信號,如表1所示。

            表1 TD-LTE HARQ上下行子幀映射關(guān)系


            3GPP TS 36.141規(guī)定性能測試只需在配置1下進行,因此可以根據(jù)表1的描述得到配置1時的時序圖:


            圖1 配置1時HARQ時序圖

            在配置1時,上行只在子幀2、3、7和8四個位置發(fā)送上行信號;下行由基站在子幀1、4、6和9發(fā)送ACK/NACK指令,指令的指示對象及重傳位置關(guān)系如圖1所示。

            2 測試平臺

            2.1 硬件平臺
            性能測試目的在于模擬實際環(huán)境下的系統(tǒng)吞吐率,因此需要基站與測試儀器進行聯(lián)調(diào)。硬件測試平臺包括:支持2天線接收的TD-LTE eNB基站、安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀PXB、安捷倫矢量信號發(fā)生器MXG(主要用于上變頻)以及一臺四通道示波器(用于系統(tǒng)調(diào)試)。測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如下:


            圖2 N5106 PXB測試系統(tǒng)

            PXB實時產(chǎn)生TD-LTE上行信號并經(jīng)過特定信道模型下的衰落后,輸出的基帶I/Q信號經(jīng)過MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線?;径藢邮盏降纳漕l信號進行解調(diào)解碼,并以RS232C的串行通信方式將反饋結(jié)果(ACK/NACK指令)傳回至PXB,PXB根據(jù)ACK/NACK指令實時調(diào)整RV因子重新發(fā)送數(shù)據(jù)包或選擇放棄當(dāng)前數(shù)據(jù)包(當(dāng)eNB發(fā)送ACK信號或是已達到最大重傳次數(shù))。最后基站端統(tǒng)計得到系統(tǒng)的吞吐率。

            如果測試環(huán)境確實希望使用外置信道仿真器,則只需使用安捷倫N5182B/N5172B射頻信號發(fā)生器即可完成上述系統(tǒng)的測試。典型的測量系統(tǒng)如圖3所示。


            圖3 N5182B/72B MXG-B測試系統(tǒng)

            2.2 軟件平臺
            PXB或N5182B/72B通過Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 軟件產(chǎn)生特定的參考測試信號,并實時地調(diào)整編碼冗余因子。

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            關(guān)鍵詞: HARQTD-LTE基

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