TEC測(cè)試和控制

許多激光二極管模組配備了半導(dǎo)體制冷器（帕爾貼器件）。一般地，可以用TEC控制器在LIV測(cè)試掃描中控制整個(gè)模組的溫度。還可以調(diào)節(jié)溫度設(shè)定點(diǎn)來對(duì)TEC的功能進(jìn)行校驗(yàn)，并可在達(dá)到新的設(shè)定溫度之后檢驗(yàn)熱敏電阻的阻值。

過大的機(jī)械剪切載荷可能是最常見的帕爾貼器件失效機(jī)理。在傳送和安裝帕爾貼器件過程中，機(jī)械剪切載荷會(huì)導(dǎo)致器件的部分或全部元件的分層或破損。簡單的交流或反向直流電阻測(cè)試可以在安裝前后確定帕爾貼器件的質(zhì)量。由于組成元件的自加熱效應(yīng)以及隨之而來的熱偏移導(dǎo)致直流電阻測(cè)量結(jié)果并不準(zhǔn)確。2510-AT型TEC 源表可以提供所需的雙極源電流和電壓測(cè)量，方便進(jìn)行這項(xiàng)測(cè)試。

隔離測(cè)試

利用開關(guān)矩陣可以在激光二極管模組的各個(gè)組成元件中方便地進(jìn)行隔離測(cè)試。舉例來說，熱敏電阻與激光二極管間的電隔離可以通過在熱敏電阻和激光二極管之間施加電壓，同時(shí)保持熱敏電阻和激光二極管各自的兩個(gè)端子上具有相同的電勢(shì)，來進(jìn)行測(cè)試，上述措施可以避免電流流過各個(gè)元件本身。