接下來，可以設(shè)置延時參數(shù)為217ps，去嵌前，S21 曲線應(yīng)該為一條傾斜的曲線，如下圖15 左側(cè)的黃色曲線所示，去嵌后，理論上S21 應(yīng)該為一條損耗為0 的水平直線，如果不是損耗為0 的水平直線，則可以通過微調(diào)損耗參數(shù)來達到，此時的損耗參數(shù)即可作為去嵌所需要的損耗參數(shù)。

六、使用時域Gating 方法對Gigaprobe 的去嵌示例

下面為對DVT40-1mm Gigaprobe 的去嵌示例。

使用Gigaprobe 對3inch 的PCB 走線進行測量得到的阻抗曲線圖，從圖中我們可以大致分辨出哪部分是探頭的阻抗曲線，那部分是3inch 走線的阻抗曲線。

將兩個Gigaprobe 探頭的Tip 和Tip 連接到一起（實際應(yīng)用中，建議使用一段100mil的PCB 走線以使連接更可靠），如下圖18 所示，白色垂直虛線為兩個探頭的中心位置（探頭的Tip 的最末端），根據(jù)這個中心位置，我們可以預測出探頭的延時。然后我們可以通過S21 來得到探頭的損耗，將延時參數(shù)和損耗參數(shù)輸入到去嵌界面中即可實現(xiàn)對Gigaprobe 探頭的去嵌。

去嵌結(jié)果如下圖19 所示：

圖19 中，白色曲線為施加Gating 去嵌之前的3inch 走線的測試結(jié)果，綠色為需要剝離部分（探頭）的阻抗曲線，粉紅色為使用Gating 去嵌原理剝離掉探頭阻抗曲線的結(jié)果，最下面的橙色曲線為3inch 走線對應(yīng)的阻抗曲線的放大。

下圖20 所示為使用力科的SPARQ 和時域Gating 去嵌方法實現(xiàn)對Gigaprobe 探頭進行去嵌的兩篇技術(shù)白皮書：

七、參考文獻
[1]http://www.google.com.hk/patents/US20120323505?dq=Peter+++Time+Domain+Gating
+++SPARQ&hl=en&sa=X&ei=D83iUYzyAofokAX08IEo&ved=0CDYQ6AEwAA

[2]sparq_de-embedding_gigaprobes_using_time_domain_gating_rev_1.1，Dr.Alan
Blankman，Teledyne