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            數(shù)字中頻和FPGA調(diào)試

            作者: 時間:2017-01-04 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            1.必要性分析

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/201701/335985.htm

            隨著數(shù)字芯片處理能力的不斷提高,當(dāng)今的通信系統(tǒng)和雷達(dá)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)已經(jīng)轉(zhuǎn)向具有模擬和強(qiáng)大數(shù)字處理功能的混合系統(tǒng)。系統(tǒng)中,數(shù)字信號處理部分完成的功能越來越多,廣泛應(yīng)用于發(fā)射信號建立和接收信號的解調(diào)處理等功能。高性能ADC/DAC器件和FPGA技術(shù)的進(jìn)步也大大擴(kuò)展了數(shù)字電路的功能和性能。

            許多系統(tǒng)的先進(jìn)功能都是通過數(shù)字信號處理技術(shù)來完成。例如:復(fù)雜的數(shù)字調(diào)制是依靠數(shù)字方法完成,然后由高性能DAC和IQ 調(diào)制器來實現(xiàn)。在電子系統(tǒng)接收機(jī)處理過程中,廣泛采用了數(shù)字中頻技術(shù),由數(shù)字電路來完成增益放大、匹配濾波、解調(diào)處理、解碼處理等功能。

            圖1 數(shù)字化發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的典型組成

            2.平臺組成框圖

            對數(shù)字電路的測試,傳統(tǒng)的測試手段主要是以碼型發(fā)生器作為被測電路的激勵,然后利用示波器邏輯分析儀來進(jìn)行信號分析,對數(shù)字信號的時序和邏輯關(guān)系進(jìn)行測試。但這種方法很難直接對電路中數(shù)字信號的矢量參數(shù)進(jìn)行分析,例如量化數(shù)字IQ信號的調(diào)制精度,相位誤差等。 也不能直觀地提供信號處理算法的效果定量參數(shù),而這些參數(shù)對于精確判斷數(shù)字電路的性能或故障定位是非常重要的。

            基于先進(jìn)儀表的技術(shù)發(fā)展,可以建立完整的數(shù)字中頻和FPGA調(diào)試平臺。在這個平臺上,可以完成對數(shù)字中頻電路和FPGA的獨(dú)立測試和調(diào)試。測試中,系統(tǒng)能提供實時的數(shù)字矢量激勵信號,數(shù)字信號的格式和電平與被測試數(shù)字電路相匹配。數(shù)字信號分析儀不僅能對數(shù)字信號的波形和邏輯關(guān)系進(jìn)行測試。還可連接矢量分析軟件完成對被測數(shù)字信號的幅度和相位參數(shù)進(jìn)行分析。數(shù)字中頻和FPGA測試平臺和的儀表配置如下圖所示。

            圖2 數(shù)字中頻電路測試平臺框圖

            圖3 Agilent 16800邏輯分析儀動態(tài)探頭技術(shù)

            3.平臺實現(xiàn)功能及性能參數(shù)

            測試平臺主要針對電子系統(tǒng)中數(shù)字信號處理電路和中頻電路部分的測試需求。通過提供完整的測試激勵信號,包含簡單的碼型激勵和復(fù)雜矢量調(diào)制信號,分析儀表對數(shù)字電路的響應(yīng)進(jìn)行全面分析,利用分析的結(jié)果來評估數(shù)字電路的性能。測試技術(shù)的突破是現(xiàn)在先進(jìn)測試儀表能夠提供數(shù)字形式的復(fù)雜調(diào)制信號。如:任意數(shù)字調(diào)制信號;無線通信信號;雷達(dá)信號;用戶計算的任意波信號等。這些信號可以以數(shù)字IQ形式或數(shù)字中頻形式輸出。另外邏輯分析儀除能完成數(shù)字信號的定時分析和狀態(tài)分析外,還可作為多通道數(shù)字信號的采集電路,采集的數(shù)字信號數(shù)據(jù)可以利用儀表內(nèi)置的矢量分析軟件進(jìn)行分析。矢量分析的目的是利用頻域、時域和解調(diào)處理來得到信號完整的參數(shù),特別是調(diào)制特性指標(biāo)。通過對數(shù)字電路輸入信號和輸出信號分別進(jìn)行矢量分析,還可得到數(shù)字信號處理電路的頻率響應(yīng)。

            數(shù)字電路測試平臺的主要核心為N5102A數(shù)字接口卡和16800系列邏輯分析儀。由N5102A負(fù)責(zé)輸出數(shù)字激勵信號,然后利用邏輯分析儀對輸出信號進(jìn)行分析。

            基于數(shù)字電路測試儀表,可以對數(shù)字電路、模數(shù)混合電路及DSP處理算法進(jìn)行獨(dú)立測試。這樣一方面可以消除模擬電路對測試結(jié)果的影響,另外可以定量地對數(shù)字電路的性能進(jìn)行驗證和評估。數(shù)字電路是整個電子系統(tǒng)中靈活性最大,發(fā)展最快的部分,利用測試平臺的儀表對數(shù)字電路進(jìn)行分析,使得大系統(tǒng)研發(fā)過程中,可以針對關(guān)鍵的數(shù)字信號處理技術(shù)上進(jìn)行重點研究和突破。關(guān)鍵技術(shù)的掌握可以大大提高整個系統(tǒng)研發(fā)的效率。



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