要測量弱電流，就必須理解各種潛在的誤差源[1]，這些誤差會造成人們所不希望出現的測量誤差[2]。影響多種類型的納米電子器件的測量結果的兩種極為常見的誤差源是摩擦生電效應和電化學效應（圖2）。



圖2：導體和絕緣體之間的摩擦所產生的電荷將引發(fā)所謂的摩擦生電[3]（Triboelectric）電流。摩擦作用從導體上掠走自由電子，從而造成電荷不平衡性，這相應產生了電流，共軸電纜中的絕緣體和導體的相互摩擦作用就是這樣的一個例子。誤差電流[4]也會由于電化學效應而引起，在這種過程中，離子性的化學物質會在兩個導體間形成微弱的電池。印刷電路板上的腐蝕溶液、助焊劑或者其他沾污會在導體間形成幾個nA的電流。

導體與絕緣體間的摩擦所產生的電荷將引發(fā)摩擦生電（Triboelectric）電流。摩擦作用從導體上掠走自由電子，從而造成電荷不平衡性，并相應形成電流。典型的實例是如圖中所示的同軸電纜中的絕緣體和導體一起摩擦而產生的電流。“低噪聲[5]”電纜大大降低這一效應。在它的外屏蔽之下，內絕緣體往往是涂覆石墨的聚乙烯。石墨起到潤滑的作用并構成了一個導電的等電位筒，以保持電荷平衡，并最大限度減少電纜運動所致的摩擦產生的電荷。不過即使是低噪聲的電纜在承受震動、拉伸和收縮時也會產生一定的噪聲，因此應該盡可能縮短所有的連接線，而且避免溫度變化（會產生熱膨脹力），最好把電纜用膠帶粘貼或者捆綁到無振動的表面上，如墻面、工作臺或者剛性的結構上。