LTE(Long Term Evolution,長(zhǎng)期演進(jìn))是3G的演進(jìn)，并被國(guó)際電聯(lián)選定為第四代移動(dòng)通信（4G）標(biāo)準(zhǔn)。摩爾實(shí)驗(yàn)室（MORLAB）在LTE測(cè)試領(lǐng)域有著一定的經(jīng)驗(yàn)，我們也將分期將LTE測(cè)試技術(shù)介紹給大家。
對(duì)于LTE的物理層的多址方案，在下行方向上采用基于循環(huán)前綴的正交頻分復(fù)用(OFDM)，在上行方向上采用基于循環(huán)前綴的單載波頻分多址(SC-FDMA)。為了支持成對(duì)的和不成對(duì)的頻譜，支持頻分雙工(FDD)模式和時(shí)分雙工(TDD)模式，目前國(guó)內(nèi)所用的TD-SCDMA就是支持時(shí)分雙工(TDD)模式的，在國(guó)外比如在美國(guó)就支持頻分雙工(FDD)模式。
就現(xiàn)實(shí)情況來說，目前大部分的應(yīng)用還是頻分雙工(FDD)的模式，其在美國(guó)FCC認(rèn)證中所適用的標(biāo)準(zhǔn)是FCC 47 CFR Part 27部分。在這一標(biāo)準(zhǔn)里規(guī)定了使用的band為L(zhǎng)TE Band 4與LTE Band 17。具體的測(cè)試項(xiàng)目如下：

No.	Section	Description
1	2.1046	Transmitter Conducted Output Power
2	2.1049、27.53(g)	Occupied Bandwidth
3	2.1055、27.54	Frequency Stability
4	27.50(d) (5)	Peak to Average Radio
5	2.1051、27.53(g)	Conducted Spurious Emissions
6	27.53(g)(h)	Band Edge
7	2.1046、27.50 (d)(4)	Equivalent Isotropic Radiated Power
8	2.1053、27.53(g)	Radiated Spurious Emissions

（表1）
如表1所示，LTE的測(cè)試項(xiàng)總共有八項(xiàng)，其中第四項(xiàng)測(cè)試PAR（Peak to Average Radio）為一項(xiàng)新的測(cè)試，其他的幾項(xiàng)測(cè)試跟Part 22&24大同小異。
下圖是Peak to Average Radio的解釋結(jié)果。



圖1
具體測(cè)試流程如下：
1，首先我門要再屏蔽室中搭建測(cè)試系統(tǒng)，所用到的測(cè)試設(shè)備包括了頻譜儀、LTE測(cè)試系統(tǒng)、功分器（將功率衰減大的一端接到頻譜儀器上）如圖2。

2，連接MS（EUT），進(jìn)入測(cè)試的時(shí)候我門要一定要注意被測(cè)MS的設(shè)置問題，另外我門要檢查射頻線、頻譜儀接口是否連接完好。
3，選擇頻譜儀中frequency center選項(xiàng)設(shè)置中心頻率，然后進(jìn)入Measure設(shè)置信道帶寬，也就是設(shè)置Span的寬度（一般大于產(chǎn)品的占用帶寬）與射頻線的補(bǔ)償值。
4，然后進(jìn)入頻譜儀Power Star CCDF選項(xiàng)中，設(shè)置需要采樣的個(gè)數(shù)（頻率點(diǎn)采樣數(shù)）。
5，頻譜儀設(shè)置完后將MS與基站連接通信，將產(chǎn)品調(diào)節(jié)到最大發(fā)射功率，此時(shí)一定要記得LTE測(cè)試分別有這不同的RB（資源快）不同的調(diào)制方式，根據(jù)認(rèn)證機(jī)構(gòu)規(guī)定，幾種情況的組合都必須測(cè)完。
6，在頻譜儀中看到信號(hào)出來的時(shí)候進(jìn)入Single選件，將波形定住，圖1就是我們所需要的結(jié)果。
一般來說測(cè)量的次數(shù)在三次以上，然后截取圖片保存，我們可以看見圖1中0.1%的時(shí)候峰值與均值的比為4.19dBm，標(biāo)FCC準(zhǔn)規(guī)定PAR的0.1%功率比不能超過13dBm。
那么早期的頻譜是沒有Power Star CCDF的測(cè)試功能，是設(shè)置完一個(gè)頻段取mark點(diǎn)的功率值，然后分別算出均值與峰值的數(shù)據(jù)作為比較。所以在測(cè)試的時(shí)候需要保存數(shù)據(jù)，就要選擇新一代的頻譜儀測(cè)試。
在這里我們只簡(jiǎn)單介紹了LTE（FDD）產(chǎn)品發(fā)射機(jī)傳導(dǎo)方式部分的測(cè)試，如果想了解更多的測(cè)試信息可聯(lián)系就近的摩爾實(shí)驗(yàn)室（MORLAB）。