EMC測(cè)試簡(jiǎn)介
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EMC測(cè)試主要分類(lèi)有:
本文引用地址：http://www.biyoush.com/article/201612/333440.htm1.EMI（Electro-Magnetic Interference）---電磁騷擾測(cè)試
此測(cè)試之目的為：檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之 電器產(chǎn)品的影響。
EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容？
•Radiated Emission －輻射騷擾測(cè)試
•Conducted Emission－傳導(dǎo)騷擾測(cè)試
•Harmonic－諧波電流騷擾測(cè)試
•Flicker－電壓變化與閃爍測(cè)試
2. EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）---電磁抗擾度測(cè)試
此測(cè)試之目的為：檢測(cè)電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作，不受影響。
EMS測(cè)試主要包含什么內(nèi)容？
•ESD－靜電抗擾度測(cè)試
•RS－射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試
•CS－射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試
• DIP－電壓暫降，短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試
•SURGE－浪涌（沖擊）抗擾度測(cè)試
•EFT－電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試
•PFMF－工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
雜散定義：指用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)調(diào)制時(shí)在除載頻和由于正常調(diào)制和切換瞬態(tài)引起的邊帶及鄰道以外 離散頻率上的輻射（既遠(yuǎn)端輻射）。雜散輻射按其來(lái)源可分為傳導(dǎo)型和輻射型兩種。
傳導(dǎo)雜散：指在天線(xiàn)的接頭處50歐姆負(fù)載上測(cè)得的任意離散信號(hào)的電平功率。
輻射雜散：測(cè)試設(shè)備的機(jī)殼、結(jié)構(gòu)及互連電纜引起的雜散騷擾。測(cè)試條件首選在電波暗室內(nèi)進(jìn)行，或是在戶(hù)外進(jìn)行。
評(píng)論