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            應用材料公司在線電子束檢視系統(tǒng)加速顯示產(chǎn)品開發(fā)

            作者:金旺 時間:2016-11-30 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            作者/ 金旺 電子產(chǎn)品世界編輯

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/201611/340869.htm

              公司在“”上展示了他們面向顯示行業(yè)的高分辨率在線電子束檢視()系統(tǒng),該系統(tǒng)能顯著提高OLED、UHD液晶屏制造商良率提升的速度,更快地將新型平板顯示產(chǎn)品推向市場。

              隨著半導體制程進入次微米,上世紀90年代,掃描電子顯微鏡檢視解決方案(SEM)取代了光學檢視,如今半導體工藝制程的在線SEM檢視率為90%。目前的顯示行業(yè), 我們?nèi)砸蕾噦鹘y(tǒng)離線SEM,而離線SEM檢視技術現(xiàn)在仍面臨以下不足:

              1)需要鍍金屬/C60鍍膜;2)檢視過程需損壞產(chǎn)品;3)檢視周期長;4)樣本率低;5)信息流失,客戶無法得到完整信息。

              公司用于OLED和高分辨率LCD的電子束檢視系統(tǒng)結合大尺寸真空技術平臺和半導體SEM技術,克服了離線SEM檢視技術的不足,可以低電壓、無損傷、快速地完成檢視的整個流程?!坝捎陔x線SEM技術需要對樣品切割、鍍膜等步驟,這不僅損壞了器件,還會大大降低工作效率,對于一個熟練的技術員,一天最多只能檢測20個樣本,而不需要切割玻璃和鍍膜,一個技術員一天可以完成上千個樣本檢測,檢測到的缺陷可以繼續(xù)后續(xù)制程的處理,觀察該缺陷是否是致命缺陷。同時,系統(tǒng)可以檢測到AOI(Automatic Optic Inspection,自動光學檢測)設備無法檢測到的缺陷,進行缺陷或顆粒成分分析,能夠更精準地找到缺陷根源。”公司顯示產(chǎn)品事業(yè)部良率技術部總經(jīng)理Peter D. Nunan介紹稱,“對于我們來說,速度是最重要的,現(xiàn)在一個小時可以檢測一百個缺陷,未來十年內(nèi)我們將不停地加快速度,對于我們的客戶來說,EBR系統(tǒng)將會成為他們應對新技術挑戰(zhàn),提高產(chǎn)能和產(chǎn)品良率的利器,減少解決難題所需的時間?!?/p>

              EBR檢視技術適用于工藝和缺陷檢測、構成分析、LTPS顆粒結構檢測和CD測量等。其低電壓檢測技術不會損傷產(chǎn)品,同時,EBR檢測設備快速的檢測速度將不斷加速新型顯示器工廠的產(chǎn)能爬坡。(旺)


            本文來源于中國科技期刊《電子產(chǎn)品世界》2016年第11期第83頁,歡迎您寫論文時引用,并注明出處。



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