2016年9月21日，INTEL 公司在深圳舉辦了2016 APAC IIA研討會(huì)，羅德與施瓦茨公司(R&S公司)應(yīng)邀參加本次會(huì)議，并展示了其基于Delta-L+的PCB 測(cè)試解決方案。本次APAC IIA (APAC Interconnect Industry Association )會(huì)議針對(duì)印刷電路板的電氣特性方法與驗(yàn)證(如傳輸線損耗)展開(kāi)探討，參會(huì)者主要來(lái)自于 PCB廠商、材料廠商、儀器廠商和終端使用者。

　　INTEL依據(jù)PCB產(chǎn)業(yè)的需要，加速開(kāi)發(fā)系統(tǒng)化的實(shí)現(xiàn)流程，來(lái)滿足PCB設(shè)計(jì)和不同階段驗(yàn)證的需求，以供業(yè)界使用參考。本次會(huì)議INTEL介紹了Delta-L+等技術(shù)方法的最近進(jìn)展情況，來(lái)幫助PCB廠商、材料廠商和儀器廠商更好的理解INTEL的印刷電路板電學(xué)需求和電氣特性驗(yàn)證方法的路線圖，具備進(jìn)行傳輸線特性測(cè)量和分析的能力，這對(duì)于PCB精確的測(cè)試和建模是至關(guān)重要的。

　　根據(jù)INTEL的PCB 測(cè)試方法和規(guī)范，R&S公司聯(lián)合Packetmicro公司和MST公司，共同開(kāi)發(fā)了一整套PCB特性測(cè)試的解決方案，本方案基于R&S公司的ZNB 矢量網(wǎng)路分析儀，內(nèi)嵌MST的EMStar測(cè)試分析軟件，再結(jié)合PacketMicro公司的高性能高可靠的探針，最后使用Delta-L+算法，可精確測(cè)試PCB的傳輸線損耗和相關(guān)參數(shù)，該方案精確，快速，便捷，不僅滿足INTEL最新的PCB測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，還滿足對(duì)通用PCB的電學(xué)特性測(cè)試。

　　本次活動(dòng)是R&S公司首次展示其領(lǐng)先的PCB 測(cè)試整體解決方案，該方案支持高達(dá)20GHz的高速PCB 探針測(cè)試以及更高頻的同軸測(cè)試，可以很好的服務(wù)于整個(gè)PCB行業(yè)的測(cè)試驗(yàn)證工作。該方案也得到了與會(huì)者的廣泛關(guān)注，與會(huì)者與R&S技術(shù)專家進(jìn)行了深入的交流和溝通，反應(yīng)熱烈。