NI推出第二代矢量信號(hào)收發(fā)儀來滿足最嚴(yán)苛的RF設(shè)計(jì)和測試應(yīng)用需求
NI(美國國家儀器,National Instruments, 簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案,幫助他們應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,今日宣布推出第二代矢量信號(hào)分析儀(VST)。 NI PXIe-5840是全球第一款1 GHz帶寬VST,專為解決最嚴(yán)苛的RF設(shè)計(jì)和測試應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)。
本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/201607/293973.htm“2012年NI推出了業(yè)界第一款具有支持LabVIEW FPGA的矢量信號(hào)收發(fā)儀(VST),幫助工程師加速工程設(shè)計(jì)并降低測試成本,從而重新定義了儀器儀表,”Frost&Sullivan通信測試與測量實(shí)踐項(xiàng)目經(jīng)理Olga Yashkova表示, “第二代VST展示了NI公司通過軟件設(shè)計(jì)的儀器來持續(xù)助力工程師的能力,該產(chǎn)品提供了最具創(chuàng)新性的射頻測試、測量和原型驗(yàn)證解決方案來幫助工程師應(yīng)對(duì)復(fù)雜且快速變化的無線技術(shù)和需求。”
NI PXIe-5840在單個(gè)雙插槽PXI Express模塊中結(jié)合了一個(gè) 6.5 GHz RF 矢量信號(hào)發(fā)生器、 6.5 GHz矢量信號(hào)分析儀、高性能用戶可編程FPGA以及高速串行和并行數(shù)字接口。全新的VST具有1 GHz的帶寬,是802.11ac/ax設(shè)備測試、移動(dòng)/物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備測試、5G設(shè)計(jì)和測試、RFIC測試、雷達(dá)原型等各種應(yīng)用的理想之選。
“工程師可以使用第二代VST來解決許多先進(jìn)的射頻測試應(yīng)用需求,其軟件設(shè)計(jì)的架構(gòu)使工程師能夠以獨(dú)特的方式自定義用戶可編程的FPGA,”NI RF產(chǎn)品營銷副總裁Charles Schroeder表示, “借助直觀的LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件,工程師可以在固件級(jí)別上將VST改造成他們需要的儀器,以應(yīng)對(duì)最嚴(yán)峻的測試和測量挑戰(zhàn)。該產(chǎn)品兼具了傳統(tǒng)測試與測量所需的RF性能和軟件無線電的靈活性,目前市面上尚未有對(duì)手。”
產(chǎn)品特性:
• 1 GHz瞬時(shí)帶寬,適用于高級(jí)數(shù)字預(yù)失真(DPD)測試和雷達(dá)、LTE-Advanced Pro和5G等高寬帶信號(hào)
• 高測量精度,使得基于第二代VST的系統(tǒng)能夠測量-50 dB的802.11ac誤差矢量幅度(EVM)
• 采用基于FPGA的測量硬件和高度優(yōu)化的測量軟件,測量速度比傳統(tǒng)儀器快10倍
• 體積小,緊密同步,單個(gè)18插槽機(jī)箱最多可支持8x8多輸入多輸出(MIMO)配置
• 基于可編程的FPGA,工程師可以使用LabVIEW輕松進(jìn)行編程
“業(yè)內(nèi)最高的帶寬和低延遲的軟件設(shè)計(jì)工具相結(jié)合,使我們能夠以前所未有的程度探索車載雷達(dá)傳感器,甚至幫助我們?cè)谠O(shè)計(jì)階段初期發(fā)現(xiàn)問題,這是以前不可能實(shí)現(xiàn)的,”Audi AG雷達(dá)系統(tǒng)組件負(fù)責(zé)人Niels Koch表示, “借助VST和可編程LabVIEW FPGA,我們能夠迅速對(duì)各種不同的場景進(jìn)行仿真,從而測試自主駕駛的安全性和可靠性。”
VST是NI平臺(tái)和生態(tài)系統(tǒng)的重要組成部分,可幫助工程師構(gòu)建更智能的測試系統(tǒng)。 不同領(lǐng)域的測試系統(tǒng),從直流到毫米波,受益于600多個(gè)PXI產(chǎn)品。它們采用PCI Express第三代總線接口,具有高吞吐量數(shù)據(jù)傳輸能力,同時(shí)具有亞納秒級(jí)同步以及集成的定時(shí)和觸發(fā)。 借助LabVIEW和NI TestStand軟件環(huán)境的高效生產(chǎn)力,以及由合作伙伴、附加IP和應(yīng)用工程師組成的強(qiáng)大技術(shù)團(tuán)隊(duì),可大幅降低測試成本,幫助用戶大幅縮短上市時(shí)間,開發(fā)面向未來的測試設(shè)備來應(yīng)對(duì)今后的種種挑戰(zhàn)。
如需了解更多關(guān)于第二代VST,請(qǐng)?jiān)L問 www.ni.com/vst/
評(píng)論