摘要：基于PXI總線和LabVIEW技術(shù)，構(gòu)建了無(wú)源干擾設(shè)備測(cè)試診斷系統(tǒng)，可完成無(wú)源干擾設(shè)備各種功能、性能參數(shù)快速、準(zhǔn)確地測(cè)試，并依據(jù)測(cè)試結(jié)果，進(jìn)行故障診斷，給出維修策略。硬件平臺(tái)基于高性價(jià)比的PXI，測(cè)試程序采用LabVIEW開發(fā)，故障診斷程序采用INCON 2．O開發(fā)，用戶只需鍵盤、鼠標(biāo)操作即可完成復(fù)雜的測(cè)試和故障診斷。結(jié)果表明，該系統(tǒng)具有通用性、開放性，用戶界面友好、操作方便，測(cè)試和排故障效率高，有效節(jié)省了測(cè)試成本和維護(hù)保障費(fèi)用。
關(guān)鍵詞：無(wú)源干擾設(shè)備；自動(dòng)測(cè)試；故障診斷；PXI總線；LabVIEW

0 引言
隨著多種新型電子器件的應(yīng)用，無(wú)源干擾設(shè)備的發(fā)展已進(jìn)入了以總線技術(shù)為主的第三階段，使得其功能越來(lái)越強(qiáng)，自動(dòng)化程度越來(lái)越高，結(jié)構(gòu)越來(lái)越復(fù)雜而緊湊，大大加重了測(cè)試和故障診斷的難度。而在設(shè)備的實(shí)際使用中，為保證安全性和有效性，要求能對(duì)無(wú)源干擾設(shè)備進(jìn)行以性能測(cè)試和故障診斷為主的技術(shù)保障。要求既要快速、精確地完成無(wú)源干擾設(shè)備整機(jī)各功能、性能參數(shù)的測(cè)試，又要單獨(dú)對(duì)分機(jī)進(jìn)行測(cè)試和故障診斷并排除故障。因此，研制和開發(fā)適合新一代無(wú)源干擾設(shè)備技術(shù)保障要求的測(cè)試診斷系統(tǒng)具有重要意義。
本文采用PXI總線和LabVIEW技術(shù)組建了一個(gè)用于無(wú)源干擾設(shè)備二線檢測(cè)維修的測(cè)試診斷系統(tǒng)。該系統(tǒng)利用NI公司的PXI模塊化產(chǎn)品，配合自研的適配器，完成所需測(cè)量和控制信號(hào)的獲取和產(chǎn)生，通過程序計(jì)算分析所得數(shù)據(jù)，最終由智能分析系統(tǒng)完成無(wú)源干擾設(shè)備的故障診斷，具有測(cè)試診斷快、機(jī)動(dòng)性強(qiáng)、使用方便的特點(diǎn)。

1 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
自動(dòng)測(cè)試和智能故障診斷平臺(tái)主要由控制器、儀器資源、開關(guān)系統(tǒng)、信號(hào)接口裝置等硬件和安裝在控制器內(nèi)的測(cè)試診斷軟件組成。本測(cè)試診斷系統(tǒng)具體結(jié)構(gòu)如圖1所示。