基于BIST的IP核測(cè)試方案
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此模式選擇模塊實(shí)現(xiàn)狀態(tài)之間的切換，電路簡(jiǎn)單，易于實(shí)現(xiàn)。
5 結(jié)束語(yǔ)
BIST為嵌入式內(nèi)核的測(cè)試提供了一個(gè)可解決的方案，其測(cè)試效果明顯，故障覆蓋率較高，實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單。通過(guò)加入測(cè)試外殼可以實(shí)現(xiàn)對(duì)IP核的訪問(wèn)、隔離、控制，有效地提高了IP核的可測(cè)性。但是采用BIST會(huì)使電路面積增加額外開(kāi)銷(xiāo)，必須在IP核的可測(cè)性和面積之間進(jìn)行權(quán)衡。
評(píng)論