一種測(cè)試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源的設(shè)計(jì)方案
圖3 PID控制算法流程圖。
PID控制算法程序采用結(jié)構(gòu)體定義:
struct PID{
unsigned int SetPoint; //設(shè)定目標(biāo)Desired Value
unsigned int Proportion; //比例常數(shù)Proportional Const
unsigned int Integral; //積分常數(shù)Integral Const
unsigned int Derivative; //微分常數(shù)Derivative Const
unsigned int LastError; //Error[-1]
unsigned int PrevError; //Error[-2]
unsigned int SumError; //Sums of Errors
}spid;
在PID控制算法中,經(jīng)過(guò)不斷與給定值進(jìn)行比較,動(dòng)態(tài)控制電壓電流輸出的穩(wěn)定,同時(shí)確保電壓電流輸出的精度。
PID控制算法程序如下:
unsigned int PIDCalc(struct PID *pp,unsigned int Next-Point)
{
unsigned int dError,Error;
Error=pp->SetPoint-NextPoint; //偏差
pp->SumError+= Error; //積分
dError=pp->LastError-pp->PrevError; //當(dāng)前微分
pp->PrevError=pp->LastError;
pp->LastError= Error;
return(pp->Proportion* Error //比例
+pp->Integral*pp->SumError //積分項(xiàng)
+pp->Derivative*dError); //微分項(xiàng)
}
3.4 系統(tǒng)程序
測(cè)試系統(tǒng)的整體程序流程圖如圖4所示。
圖4 主程序流程圖
本文所設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源能夠滿足芯片測(cè)試所需的電源要求。圖5為輸出的一路電壓。由圖可知,所輸出的電壓穩(wěn)定。
圖5 輸出電壓波形圖
4 結(jié) 語(yǔ)
本文設(shè)計(jì)的穩(wěn)壓電源提供的電壓穩(wěn)定可靠,系統(tǒng)運(yùn)行也非常穩(wěn)定。由于可擴(kuò)展的I/O 非常多,可以同時(shí)為多個(gè)芯片提供各種所需的穩(wěn)壓電源電壓值。該系統(tǒng)不僅能夠用在實(shí)驗(yàn)室芯片測(cè)試工作中,而且可以通過(guò)軟件編程的方法,修改一些控制程序,使所設(shè)計(jì)的穩(wěn)壓電源作為智能電子產(chǎn)品性能測(cè)試的電源電壓,這樣提高了設(shè)備的使用效率,有著不錯(cuò)的應(yīng)用前景。
評(píng)論