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      在LabVIEW中驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)采集卡的三種方法

      作者: 時(shí)間:2012-08-15 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

      一、引言

      本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/193382.htm

      近年來,面向儀器的軟件開發(fā)平臺(tái),如美國NI公司的成熟和商業(yè)化,使用者在配有專用或通用插卡式硬件和軟件開發(fā)平臺(tái)的個(gè)人計(jì)算機(jī)上,可按自己的需求,設(shè)計(jì)和組建各種測試分析儀器和測控系統(tǒng)。由于提供的是一種適應(yīng)工程技術(shù)人員思維習(xí)慣的圖形化編程語言,圖形界面豐富,內(nèi)含大量分析處理子程序,使用十分方便,個(gè)人儀器發(fā)展到了使用者也能設(shè)計(jì),開發(fā)的新階段。

      鑒于是工程技術(shù)人員自己編制,調(diào)用軟件來開發(fā)儀器功能,軟件成了儀器的關(guān)鍵。故人們也稱這類個(gè)人儀器為虛擬儀器,稱這種主要由使用者自己設(shè)計(jì),制造儀器的技術(shù)為虛擬儀器技術(shù)(Virtual Instrumentation Technology)。使用虛擬儀器技術(shù),開發(fā)周期短、儀器成本低、界面友好、使用方便、可靠性高, 可賦于檢測儀初步智能,能共享PC機(jī)豐富的軟硬件資源,是當(dāng)前儀器業(yè)發(fā)展的一個(gè)重要方面。

      虛擬儀器的典型形式是在臺(tái)式微機(jī)系統(tǒng)主板擴(kuò)展槽中插入各類數(shù)據(jù)采集插卡,與微機(jī)外被測信號(hào)或儀器相連,組成測試與控制系統(tǒng)。但NI公司出售的,直接支持的插卡價(jià)格十分昂貴,嚴(yán)重限制著人們用LabVIEW來開發(fā)各種虛擬儀器系統(tǒng)。在LabVIEW中如何其它低價(jià)位的數(shù)據(jù)采集插卡,成為了國內(nèi)許多使用者面臨的關(guān)鍵問題。

      二、三種在LabVIEW中使用國產(chǎn)數(shù)據(jù)采集插卡的

      筆者將近年來工程應(yīng)用中總結(jié)出的三種在LabVIEW中通用數(shù)據(jù)采集插卡的介紹如下。介紹中,以某市售8通道12位A/D插卡為例。設(shè)插卡基地址為base=0x100,在C語言中,選擇信號(hào)通道ch的指令是 _outp(base,ch),啟動(dòng)A/D的指令是_inp(base),采樣量化后的12位二進(jìn)制數(shù)的高4位存于base+2中,低8位存于base+3中。

      1、直接用LabVIEW的 In Port , Out Port圖標(biāo)編程

      LabVIEW的Functions模板內(nèi)Adevanced Memory中的In Port 、Out Port 圖標(biāo),與_inp、_outp功能相同,因此可用它們畫程序方框圖, 設(shè)計(jì)該A/D插卡的程序。N個(gè)通道掃描,各采集n點(diǎn)數(shù)據(jù)的LabVIEW程序方框圖如圖1所示。圖中用LabVIEW的計(jì)時(shí)圖標(biāo)控制掃描速率。

      77.jpg

      圖1 N個(gè)通道掃描,各采集n點(diǎn)數(shù)據(jù)的程序方框圖

      顯然,若采樣速率要求較低,這不失為最方便、直觀的,而且可隨畫隨改。

      2、用LabVIEW的CIN圖標(biāo)生成A/D插卡驅(qū)動(dòng)程序的子VI

      LabVIEW的Functions模板內(nèi)Adevanced 中有一個(gè)CIN(Code InteRFace Node)圖標(biāo),用來在LabVIEW程序方框圖中直接調(diào)其它編程語言(如VC)寫的代碼?,F(xiàn)以生成一個(gè)對指定的通道采集n點(diǎn)數(shù)據(jù)的LabVIEW子VI為例,其主要步驟為:

      圖2 CIN圖標(biāo)

      (1)在LabVIEW下,點(diǎn)出CIN圖標(biāo),拖大并聯(lián)接入兩個(gè)控件和一個(gè)顯件,如圖2所示。其中控件用于選擇模擬信號(hào)輸入通道和選擇數(shù)據(jù)采集點(diǎn)數(shù),數(shù)組顯件顯示所采集的數(shù)據(jù)。

      (2)在CIN圖標(biāo)上單擊鼠標(biāo)右鍵彈出菜單,選Create .c file.,產(chǎn)生并存入一個(gè)×××.C程序框架。

      (3)在VC++5.0下完成×××.C程序框架的數(shù)據(jù)采集部分的編寫,編譯該×××.C程序(示例見附1),生成×××.obj代碼。在coustom build方式下用nmake / f ×××.lvm 指令將×××.lvm接口程序(示例見附2)編譯成×××.lsb代碼。

      (4)在LabVIEW的CIN圖標(biāo)下裝載×××.lsb。運(yùn)行成功后將該CIN作成子VI,存入某個(gè)文件夾。

      在以后的LabVIEW應(yīng)用程序框圖中,該子VI圖標(biāo)即可作此A/D插卡驅(qū)動(dòng)圖標(biāo)使用。

      若A/D插卡上有晶振作基準(zhǔn)時(shí)鐘,有可編程計(jì)數(shù)/定時(shí)器,附錄1示例的C語言程序還可加入定時(shí)采集語句,以實(shí)現(xiàn)在子VI中選擇采樣速率。圖3是調(diào)用按上述步驟生成的子VI編程所采集的方波信號(hào)及其自功率譜。

      圖3 采集的方波信號(hào)及其自功率譜

      用CIN結(jié)點(diǎn)生成A/D插卡驅(qū)動(dòng)程序的子VI的方法可較充分發(fā)揮A/D的高轉(zhuǎn)換速度,獲得高的采樣速率。但編程較煩雜,不能由LabVIEW直接修改。

      3、用LabVIEW的Call Library Functions圖標(biāo),動(dòng)態(tài)鏈接數(shù)據(jù)采集插卡的 .DLL庫函數(shù)

      許多數(shù)據(jù)采集插卡附有.DLL庫函數(shù)形式的驅(qū)動(dòng)程序,用戶可使用某種DLL鏈接庫的編程工具,如VC、VB,編寫應(yīng)用程序來調(diào)用它。LabVIEW也提供了一個(gè)動(dòng)態(tài)鏈接庫函數(shù)的圖標(biāo)Call Library Function,放在Functions模板內(nèi)的Adevanced子模板中。在example/dll目錄中有使用該圖標(biāo)的例子,可參照它們完成對數(shù)據(jù)采集插卡的.DLL庫函數(shù)的調(diào)用。 三、兩個(gè)測試系統(tǒng)實(shí)例

      1、滾動(dòng)軸承振動(dòng)虛擬檢測儀

      該滾動(dòng)軸承振動(dòng)虛擬檢測儀是為檢測低噪聲軸承強(qiáng)調(diào)的“異音”而開發(fā)的。目前國內(nèi)滾動(dòng)軸承出廠振動(dòng)分類檢測的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和檢測儀器(如S0910型) 都只能檢測振動(dòng)加速度的均方根值,遠(yuǎn)不能適應(yīng)低噪聲軸承的要求。

      我們在LabVIEW下,用PC機(jī)加國產(chǎn)12位A/D插卡,開發(fā)出的虛擬檢測儀,采樣速率最高達(dá)80KHz。按每2秒檢測一個(gè)軸承的迫節(jié),以加速度均方值的分貝值,峰值因子,峭度,超某幅值峰數(shù)四個(gè)參數(shù)來綜合評(píng)定軸承振動(dòng)級(jí)別。PC機(jī)14″的CRT,對檢驗(yàn)員有極佳的可視性,檢測確定的軸承等級(jí)由軟指示燈閃爍顯示,在面板上十分醒目,便于檢驗(yàn)后歸類。每個(gè)軸承的檢驗(yàn)結(jié)果自動(dòng)寫入當(dāng)班統(tǒng)計(jì)文件中,供生產(chǎn)和質(zhì)檢部門使用。檢測程序讀入各類設(shè)置文件便可適應(yīng)不同類型軸承或不同的檢測分類標(biāo)準(zhǔn)。

      2、空調(diào)散熱器試驗(yàn)測溫系統(tǒng)

      為對某空調(diào)散熱器進(jìn)行散熱性能試驗(yàn),開發(fā)出多點(diǎn)熱電偶測溫的虛擬儀器系統(tǒng)。

      硬件選用一國產(chǎn)有A/D及DIO的PC機(jī)插卡,外串接三塊前端信號(hào)處理板。每塊前端信號(hào)處理板提供一個(gè)冷端補(bǔ)償電路,并可接16路熱電偶。每塊前端板的冷端補(bǔ)償電壓和熱電偶電勢各占用插卡的一個(gè)模擬輸入通道,由插卡的發(fā)出的4位數(shù)字輸出選擇各熱電偶電勢輸入。

      由于溫度采集速率甚低,直接用LabVIEW的 In Port , Out Port 圖標(biāo)編程完全可滿足要求。編程中調(diào)用了LabVIEW中Functions模板內(nèi)Data Acquisition Signal ConditioningConvert Thermcouple Reading圖標(biāo),稍作修改,生成了各類標(biāo)準(zhǔn)熱電偶溫度轉(zhuǎn)換為電壓,電壓轉(zhuǎn)換為溫度的新的子VI。編程十分簡便,且能用于各類標(biāo)準(zhǔn)熱電偶測溫。

      附1 ×××.C源程序

      /* CIN source file */

      #include c:labviewcintoolsextcode.h

      #include conio.h

      typedef struct {

      int32 dimSize;

      float32 arg1[1];

      } TD1;

      typedef TD1 **TD1Hdl;

      CIN MgErr CINRun(int32 *n, TD1Hdl xarray, int32 *ch);

      CIN MgErr CINRun(int32 *n, TD1Hdl xarray, int32 *ch)

      { /* ENTER YOUR CODE HERE */

      int base,i, ns,c;

      uInt8 h,l;

      float *xarrayElmtp;

      ns=*n;/* 采樣點(diǎn)數(shù) */

      c=*ch;/* 模入通道號(hào)*/

      SetCINArraySize((UHandle)xarray,1,ns);

      (*xarray)->dimSize=ns;

      xarrayElmtp=(*xarray)->arg1;

      base=0x100; /* 數(shù)據(jù)采集插卡基地址*/

      _outp(base,c); /* 選擇模入通道*/

      for (i=0;i{

      _outp(base+1,0); /* 啟動(dòng) A/D*/ do {;}

      while ((_inp(0x101)0x01)!=0);

      h=_inp(base+2);

      l=_inp(base+3)0xf0;

      *xarrayElmtp=(h*16+l/16)/409.6-5.0;

      xarrayElmtp++;

      }

      return noErr;

      }

      附2 ×××.lvm接口程序

      IDE=VC

      name= ×××

      type=CIN

      cintoolsdir=c:labviewcintools

      ! include $(cintoolsdir)ntlvsb.mak>

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