圖2：此處顯示的是使用安捷倫X系列分析儀獲得的ACLR測量結(jié)果。第一個頻偏(A)位于5MHz處，集成帶寬為4.515MHz.另一個頻偏(B)位于10MHz處，具有相同的集成帶寬。

優(yōu)化分析儀設(shè)置

雖然上述的一鍵式測量提供了非?？焖?、易用、依據(jù)LTE標(biāo)準(zhǔn)的ACLR測量，但是工程師仍然可以對信號分析儀設(shè)置進(jìn)行優(yōu)化，獲得更出色的性能。有四種方法可以優(yōu)化分析儀，進(jìn)一步改善測量結(jié)果：

*優(yōu)化混頻器上的信號電平DD優(yōu)化輸入混頻器上的信號電平要求對衰減器進(jìn)行調(diào)整，實現(xiàn)最小的限幅。有些分析儀能夠根據(jù)當(dāng)前測得的信號值自動選擇衰減值。這為實現(xiàn)最佳的測量范圍奠定了良好的基礎(chǔ)。其它分析儀(例如X系列信號分析儀)擁有電子和機(jī)械衰減器，可以結(jié)合使用兩者來優(yōu)化性能。在這些情況下，機(jī)械衰減器只需進(jìn)行細(xì)微的調(diào)整變得獲得更出色的的結(jié)果，步進(jìn)大約為1或2dB.

*更改分辨帶寬濾波器DD按下分析儀的帶寬濾波器鍵，可降低分辨率帶寬。注：由于分辨率帶寬降低，所以掃描時間會增加。掃描速度的降低，可以減少測量結(jié)果和測量速度的變化。

*啟動噪聲校正DD一旦啟動噪聲校正功能，分析儀將會進(jìn)行一次掃描，以測量當(dāng)前中心頻率的內(nèi)部本底噪聲，并將在以后進(jìn)行的掃描中從測量結(jié)果中減去該內(nèi)部本底噪聲。這種方法能夠顯著改善ACLR，有時改善幅度高達(dá)5dB.

*采用另一種測量方法。除了使用默認(rèn)的測量方法(集成帶寬或IBW)之外，也可以采用濾波IBW方法。該方法使用了更加陡降的截止濾波器。雖然這種方法會降低功率測量結(jié)果的絕對精度，但是對ACLR結(jié)果沒有不利影響。

通過結(jié)合使用這些方法，信號分析儀可以利用其嵌入式LTE應(yīng)用程序自動優(yōu)化ACLR測量，實現(xiàn)性能與速度的最佳搭配。對于典型的ACLR測量，測量結(jié)果可能改善高達(dá)10dB或更多(圖3)。如果測量需要最高的性能，那么可以進(jìn)一步調(diào)整分析儀設(shè)置。

本文小結(jié)

符合標(biāo)準(zhǔn)的頻譜測量(例如ACLR)對于射頻工程師開發(fā)下一代無線系統(tǒng)具有極其重要的作用。然而使用LTE應(yīng)用軟件進(jìn)行測量時，受多種因素的影響，這些測量非常復(fù)雜：鄰近信道帶寬的變化，發(fā)射濾波器的選擇，不同帶寬和不同干擾靈敏度的信道之間的射頻變量的交互。應(yīng)對這一挑戰(zhàn)的實用解決方案是使用安裝有特定標(biāo)準(zhǔn)測量應(yīng)用軟件的頻譜分析儀或信號分析儀。此組合能夠減少復(fù)雜測量中的錯誤，自動配置限制表和指定的測試裝置，確保測量具有出色的可重復(fù)性。使用分析儀優(yōu)化技術(shù)可以進(jìn)一步改善測量結(jié)果。

圖3：此處顯示的是使用優(yōu)化設(shè)置后的安捷倫X系列信號分析儀獲得的ACLR測量結(jié)果。與圖2使用嵌入式N9080A LTE測量應(yīng)用軟件獲得的結(jié)果相比，圖3中的ACLR實現(xiàn)了11dB的改善。