摘要： 在EMC試驗(yàn)中，根據(jù)試驗(yàn)項(xiàng)目及試品自身的特點(diǎn)，有兩種關(guān)于節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間、提高試驗(yàn)效率的方法：去除冗余的方法和多線測(cè)量的方法。

關(guān)鍵詞： EMC；浪涌；振蕩波抗擾度；電快速瞬變脈沖群

概述

由于目前所使用的電子元件和設(shè)備對(duì)電磁干擾非常敏感，尤其對(duì)“高頻”和“瞬態(tài)”現(xiàn)象。所以在電子元件和設(shè)備的大量使用中，出現(xiàn)了由電和電磁干擾所引起的設(shè)備誤動(dòng)作、設(shè)備拒動(dòng)、設(shè)備損壞等現(xiàn)象。為了避免和減輕上述問題，提出了對(duì)電子元件和帶有電子元件的設(shè)備要進(jìn)行電磁兼容(EMC)試驗(yàn)，主要進(jìn)行浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)，振蕩波抗擾度試驗(yàn)和電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)。在浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)和振蕩波抗擾度試驗(yàn)中，隨著電源線和控制線數(shù)量的增多，試驗(yàn)的時(shí)間和繁瑣度也隨著增加。

在多次對(duì)受試設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)的過程中，筆者總結(jié)出了以下兩種可提高試驗(yàn)效率的方法。

去除冗余的方法

根據(jù)國標(biāo)GB/T17625.5-1999，如果受試設(shè)備的控制線、信號(hào)線中存在功能相同的線，即實(shí)現(xiàn)的電路線路相同，則可以選擇其中一定數(shù)量的線路進(jìn)行典型測(cè)量。例如，在對(duì)某電子有限公司生產(chǎn)的CHK-II型重合器控制器進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，它有三根電流線分別標(biāo)為Ia、Ib、Ic。根據(jù)CHK-II型重合器控制器的原理圖，Ia、Ib、Ic這三根線的實(shí)現(xiàn)線路是相同的，則在浪涌試驗(yàn)中，Ia與其他控制線、信號(hào)線的共模和差模試驗(yàn)性質(zhì)同Ib、Ic與其他控制線、信號(hào)線的共模和差模試驗(yàn)，所以我們可對(duì)其中的任意兩根進(jìn)行測(cè)量(也可對(duì)其中的一根測(cè)量)。

多線測(cè)量的方法

在浪涌試驗(yàn)中，分為共模和差模兩種方式。

在共模方式中：如果有N根控制和信號(hào)線，則測(cè)量次數(shù)為N