其中β表示縫隙中心線與波導寬邊中心線之間的夾角，α為寬壁的長度，b為窄壁的長度。將之前求得的rn代入并求解方程可得到對應的縫隙偏角。

　　1.3 影響天線性能的因素

　　應用以上所計算出來的結(jié)果來進行天線的設(shè)計，還必須考慮縫隙間的互耦問題;若不考慮互耦，將使天線口徑面的幅度分布和相位分布變壞，同時也將惡化天線的輸入端匹配。

　　串聯(lián)縫隙與縱向縫隙相比，由于其角度偏轉(zhuǎn)的原因，其交叉極化輻射要比縱向縫隙高，這會帶來副瓣電平的升高和增益的降低，仿真結(jié)果也證實了這一點，而這是我們在設(shè)計中所不希望看到的，需要采取措施抑制交叉極化輻射。在本設(shè)計中，采用在每個縫隙上方加一個小波導口的辦法，小波導的傳播方向垂直于縫隙所在的平面。

　　2 建模與仿真

　　本文在設(shè)計波導縫隙天線的過程中，設(shè)計中的數(shù)值仿真都是在CST時域求解器的環(huán)境中完成的。

　　2.1 天線模型的建立

　　輻射波導選用的尺寸是22.86×10.16mm，縫一側(cè)的波導壁厚1mm，縫寬為2mm，波導兩端為理想短路面;截止波導16×8mm。建立模型，其框架圖如圖3所示：

　　其中黑色標記處為同軸線中心饋電點;輻射口上方的方形材料為天線罩;從左到右縫隙的編號依次為1～4。

　　2.2 仿真結(jié)果分析

　　仿真中將縫長l和傾角β設(shè)置成變量，l的初始值取λ/2，利用CST的參數(shù)掃描功能，對縫隙長度和傾角進行掃描。通過設(shè)置合理的步長，能夠加快掃描進度，減少計算時間。由于本設(shè)計采用的是同軸線中心饋電，需要考慮阻抗匹配的問題，否則會在與波導的連接處產(chǎn)生反射，影響天線的性能。根據(jù)λ/4阻抗變換的原理，在仿真中通過改變同軸線內(nèi)導體探針的長度來進行匹配，觀察端口模式當同軸線輸入阻抗為50 Ω時即認為達到了所需的效果，經(jīng)過仿真得到同軸線內(nèi)導體探針長度為8.5mm。并在此基礎(chǔ)上仿真得到縫隙的參數(shù)如下：