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            EEPW首頁 > 電源與新能源 > 設計應用 > VDMOS器件損傷的DC/DC轉換器輻射預兆單元設計

            VDMOS器件損傷的DC/DC轉換器輻射預兆單元設計

            作者: 時間:2009-12-03 來源:網(wǎng)絡 收藏

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            2.1 預警方案選取
            針對上述兩種失效模式,選取合適的預警方案,在中加人,加入后的/DC結構,如圖3所示。報警信號采用低電位向高電位的跳變,為此合理的預兆單元電路,在將要失效時,輸出信號由低電平變?yōu)楦唠娖健?/p>本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/181163.htm

            2.2 單元電路
            根據(jù)前文所述預兆單元技術原理,監(jiān)測參數(shù)的預兆單元電路應包括下面3部分。(1)情況監(jiān)測電路;(2)監(jiān)測信號放大電路;(3)輸出電路。下面分別介紹各個功能部分的設計過程。(1)監(jiān)測電路。通過R1和R2給監(jiān)測固定柵偏壓,這個柵偏壓是報警閾值點。當監(jiān)測閾值電壓負漂到固定柵偏壓時,監(jiān)測器件導通;(2)監(jiān)測信號放大電路。在監(jiān)測器件的上電位加一負載,負載是電阻或p型MOSFET有源負載,負載和監(jiān)測器件構成放大器,監(jiān)測器件閾值電壓負漂到報警閾值點時,Vsense由高電平轉化為低電平;(3)輸出電路。輸出電路采用抗加固的反相器實現(xiàn)???a class="contentlabel" href="http://www.biyoush.com/news/listbylabel/label/輻射">輻射加固反相器,如圖4所示,增加一個上拉p型MOSFET(p1),并在n型MOSFET下面引入一個額外的n型MOSFET(n1)。當輸入為高電平時,p1MOSFET關斷,n1MOSFET開啟,原始的反相器工作不受影響。當輸入為低電平時,plMOSFET起上拉作用,使p1MOSFET和n1MOSFET漏端連接點處于高電平,因此n型MOSFET能更有效的關閉。n型MOSFET源漏電壓減小,降低了漏電流,經(jīng)過輻射后,輸出仍能保持在Vcc附近。整體電路,如圖4所示,當器件輻射達到一定程度時,監(jiān)測信號經(jīng)過放大和輸出電路最終輸出高電平信號。

            3 報警閾值確定與仿真
            3.1 報警閾值確定
            報警閾值點由器件和之間的損傷關系而定,上述兩種不同的失效模對應不同的失效閾值點。下面的方法可以解決不同閾值點的問題。對于VDMOS器件不能關斷失效模式,失效時閾值電壓漂移量△V1=Vth一V1(V1為PWM輸出低電平電壓)。對于效率退化失效模式,根據(jù)式(3)和國家軍用標規(guī)定推算得閾值電壓漂移量為△V2。對比兩種失效模式閾值電壓負漂量,選取負漂量較小的為失效負漂量。失效閾值電壓負漂量減小20%作為監(jiān)測閾值電壓負漂量。閾值電壓的監(jiān)測點由式(4)給出


            3.2 仿真驗證
            根據(jù)選取的電路,確定參數(shù)并代入式(4)計算得Vs=1.2V,調整R1,R2的阻值,使DUT器件監(jiān)測電壓為1.2V。在Pspice下仿真結果,如圖5所示,當VDMOS器件閾值電壓負漂到1.2V時,輸出電壓由低電平變?yōu)楦唠娖?,實現(xiàn)報警。由于電路采用抗輻射加固設計,其他器件輻射損傷對輸出影響不大,仿真結果沒有變化,在此不再給出仿真結果。航天用工作在很大的溫度范圍內,預兆單元溫度變化仿真結果,如圖6所示,輸出電壓不受影響,跳變點微小變化對報警影響不大。仿真結果證實所設計的預兆單元電路和預警方案是合理可行的。

            4 結束語
            文中把預警和健全管理(PHM)方法用于DC/DC轉換器抗輻射可靠性研究,研究了VDMOS器件和DC/DC轉換器之間的輻射損傷關系。結合輻射損傷關系和預兆單元技術原理設計了基于VDMOS器件損傷的DC/DC轉換器輻射預兆單元,仿真結果證實所設計的預兆單元可以對DC/DC轉換器輻射損傷失效提前報警。

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