在线看毛片网站电影-亚洲国产欧美日韩精品一区二区三区,国产欧美乱夫不卡无乱码,国产精品欧美久久久天天影视,精品一区二区三区视频在线观看,亚洲国产精品人成乱码天天看,日韩久久久一区,91精品国产91免费

<abbr id="27omo"></abbr>

<menu id="27omo"><dl id="27omo"></dl></menu>
    • <label id="27omo"><tt id="27omo"></tt></label>

      新聞中心

      EEPW首頁 > 電源與新能源 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 理解功率MOSFET的UIS及雪崩能量

      理解功率MOSFET的UIS及雪崩能量

      作者: 時(shí)間:2010-04-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

      的數(shù)據(jù)表中,通常包括單脈沖EAS,電流IAR,重復(fù)脈沖EAR等參數(shù),而許多電子工程師在設(shè)計(jì)電源系統(tǒng)的過程中,很少考慮到這些參數(shù)與電源系統(tǒng)的應(yīng)用有什么樣的聯(lián)系,如何在實(shí)際的應(yīng)用中評定這些參數(shù)對其的影響,以及在哪些應(yīng)用條件下需要考慮這些參數(shù)。本文將論述這些問題,同時(shí)探討在非鉗位感性開關(guān)條件下的工作狀態(tài)。
        
      EAS,IAR和EAR的定義及測量
      的雪崩與器件的熱性能和工作狀態(tài)相關(guān),其最終的表現(xiàn)就是溫度的上升,而溫度上升與水平和硅片封裝的熱性能相關(guān)。功率半導(dǎo)體對快速功率脈沖(時(shí)間為100~200μs)的熱響應(yīng)可以由式1說明:
      (1)
      其中,A是硅片面積,K常數(shù)與硅片的熱性能相關(guān)。由式(1)得:
      (2)
      其中,tav是脈沖時(shí)間。當(dāng)長時(shí)間在低電流下測量雪崩能量時(shí),消耗的功率將使器件的溫度升高,器件的失效電流由其達(dá)到的峰值溫度所決定。如果器件足夠牢靠,溫度不超過最高的允許結(jié)溫,就可以維持測量。在此過程內(nèi),結(jié)溫通常從25℃增加到TJMAX,外部環(huán)境溫度恒定為25℃,電流通常設(shè)定在ID的60%。雪崩電壓VAV大約為1.3倍器件額定電壓。

      本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/180951.htm


      雪崩能量通常在非鉗位感性開關(guān)條件下測量。其中,有兩個(gè)值EAS和EAR,EAS為單脈沖雪崩能量,定義了單次雪崩狀態(tài)下器件能夠消耗的最大能量;EAR為重復(fù)脈沖雪崩能量。雪崩能量依賴于電感值和起始的電流值。


      圖1為VDD去耦的EAS測量電路及波形。其中,驅(qū)動(dòng)MOSFET為Q1,待測量的MOSFET為DUT,L為電感,D為續(xù)流管。待測量的MOSFET和驅(qū)動(dòng)MOSFET同時(shí)導(dǎo)通,電源電壓VDD加在電感上,電感激磁,其電流線性上升,經(jīng)導(dǎo)通時(shí)間tp后,電感電流達(dá)到最大值;然后待測量的MOSFET和驅(qū)動(dòng)MOSFET同時(shí)關(guān)斷,由于電感的電流不能突變,在切換的瞬間,要維持原來的大小和方向,因此續(xù)流二極管D導(dǎo)通。

      圖1 VDD去耦的EAS測量圖


      由于MOSFET的DS之間有寄生電容,因此,在D導(dǎo)通續(xù)流時(shí),電感L和CDS形成諧振回路,L的電流降低使CDS上的電壓上升,直到電感的電流為0,D自然關(guān)斷,L中儲(chǔ)存的能量應(yīng)該全部轉(zhuǎn)換到CDS中。


      如果電感L為0.1mH,IAS=10A,CDS=1nF,理論上,電壓VDS為
      CDSVDS2=LIAS2 (3)
      VDS=3100V


      這樣高的電壓值是不可能的,那么為什么會(huì)有這樣的情況?從實(shí)際的波形上看,MOSFET的DS區(qū)域相當(dāng)于一個(gè)反并聯(lián)的二極管。由于這個(gè)二極管兩端加的是反向電壓,因此處于反向工作區(qū),隨著DS的電壓VDS增加,增加到接近于對應(yīng)穩(wěn)壓管的鉗位電壓也就是 V(BR)DSS時(shí),VDS的電壓就不會(huì)再明顯的增加,而是維持在V(BR)DSS值基本不變,如圖1所示。此時(shí),MOSFET工作于雪崩區(qū),V(BR)DSS就是雪崩電壓,對于單次脈沖,加在MOSFET上的能量即為雪崩能量EAS:


      EAS=LIAS2/2 (4)


      同時(shí),由于雪崩電壓是正溫度系數(shù),當(dāng)MOSFET內(nèi)部的某些單元溫度增加,其耐壓值也增加,因此,那些溫度低的單元自動(dòng)平衡,流過更多的電流以提高溫度從而提高雪崩電壓。另外,測量值依賴于雪崩電壓,而在去磁期間,雪崩電壓將隨溫度的增加而變化。


      在上述公式中,有一個(gè)問題,那就是如何確定IAS?當(dāng)電感確定后,是由tp來確定的嗎?事實(shí)上,對于一個(gè)MOSFET器件,要首先確定IAS。如圖1所示的電路中,電感選定后,不斷地增加電流,直到將MOSFET完全損壞,然后將此時(shí)的電流值除以1.2或1.3,即降額70%或80%,所得到的電流值即為IAS。注意到IAS和L固定后,tp也是確定的。


      過去,傳統(tǒng)的測量EAS的電路圖和波形如圖2所示。注意到,VDS最后的電壓沒有降到0,而是VDD,也就是有部分的能量沒有轉(zhuǎn)換到雪崩能量中。

      圖2 傳統(tǒng)的EAS測量圖


      在關(guān)斷區(qū),圖2(b)對應(yīng)的三角形面積為能量,不考慮VDD,去磁電壓為VDS,實(shí)際的去磁電壓為VDS-VDD,因此雪崩能量為
      (5)
      對于一些低壓的器件,VDS-VDD變得很小,引入的誤差會(huì)較大,因此限制了此測量電路的在低壓器件中的使用。


      上一頁 1 2 下一頁

      關(guān)鍵詞: 雪崩 能量 UIS MOSFET 功率 理解

      評論


      相關(guān)推薦

      技術(shù)專區(qū)

      關(guān)閉