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            低壓驅動RF MEMS開關設計與模擬

            作者: 時間:2010-10-29 來源:網絡 收藏


            考慮到電容式仍存在的介質擊穿問題,這里對其結構加以改進,將扭轉臂杠桿與打孔電容膜相結合,在減小電壓和提高速度的同時,又不影響電容比,一定程度上抑制了電擊穿。其工作原理是:push電極加電壓時杠桿上抬,介質膜與接觸膜間距離增大導致其耦合電容很小,信號通過傳輸線;pull電極加電壓時杠桿下拉,耦合電容變大,微波信號被反射。材料選擇上仍以Au和S3N4為主,某些部分可用A1代替Au。結構與尺寸的上由超越方程與通斷下的電容方程得到估計值,下極板為25×25(單位制采用μMKSV,長度單位為μm,下同),其上附有絕緣介質層,孔為3.4×3.4,杠桿為100x30,結構層為20×20,極板厚度為1。用ANSYS仿真得到圖3所示結果。


            在ANSYS做靜電耦合與模態(tài)分析后利用ANSOFT HFSS對該開關進行3D電磁場仿真,進一步求得其插入損耗與隔離度,確定共面波導和接觸膜的結構,從而完善開關的射頻性能。建模時忽略開關的彎曲,定義材料特性與空氣輻射邊界,利用wave port端口進行仿真,分別求解開態(tài)的插入損耗和關態(tài)的隔離度。介質層較薄時,開關在10 GHz附近具有良好的隔離度,且插入損耗在1 dB以下。

            3 開關的制備工藝
            合理選擇生長介質膜的工藝對開關性能有很大影響,本文的 開關需要在基底表面生長一層氮化硅膜,一般選擇LP-CVD工藝,而介質膜則選擇PECVD工藝為宜,金屬膜的性能要求相對較低,用濺射方法即可??紤]到基底要求漏電流與損耗盡可能小,選取高阻硅與二氧化硅做基底,后者保證了絕緣要求。金質信號線與下極板通過正膠剝離形成,電子束蒸發(fā)得到鋁質上極板。但從可行性考慮,部分方案的工藝實現對于國內的加工工藝尚有難度,只能犧牲微系統(tǒng)的性能來達到加工條件。

            4 結語
            本文主要從結構上進行了創(chuàng)新,通過計算機輔助仿真分析得到了理論解,一定程度上滿足了初衷,但在工藝上還不成熟。更低的電壓和更高的開關頻率仍是亟待解決的問題,另外如何保證實際產品的可靠性、實用性也是未來的研究重點。


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