我們用賽普拉斯可編程片上系統(tǒng)(PSoC)構(gòu)建了自調(diào)整電路的實施方案，并以此來收集性能數(shù)據(jù)。內(nèi)部參考帶隙電壓和Vdd上外部獲得的參考電壓變動情況如圖5所示。該圖由通過收集采用最小型PSoC芯片CY8C21123所實施電路的數(shù)據(jù)繪制而成，該電路的平均比較器偏置電壓為8mV。從圖中可以看出，外部電壓參考對供電電壓的依賴取決于帶隙參考電壓變動和供電電壓的比較器參數(shù)(偏置)。

　　圖5：參考電壓隨供電電壓和溫度而產(chǎn)生的變化。

　　前兩種方法對溫度的依賴可以忽略。自調(diào)整電壓參考電路取決于帶隙電壓和溫度偏置差異。參考電壓隨溫度的變動情況如圖5所示。溫度變動幾乎完全隨Vbg變動。與溫度的變動相比，比較器的偏置等非理想?yún)?shù)與供電變化有較大不同。這會導(dǎo)致輸出參考電壓與內(nèi)部參考電壓差異更大，具體差異為Vdd。

　　因為輸出的有效電阻不為零，所以上述所有方法的負(fù)載驅(qū)動功能均小于緩沖電壓輸出。在三種方法的驅(qū)動功能中，第一種方法最低。連接到該節(jié)點的電阻必須大大高于有效電阻 (Reff)。PWM-DAC的負(fù)載驅(qū)動功能與任何低通濾波器相同。

　　我們可通過理想的比較器來獲得自調(diào)整電路的負(fù)載驅(qū)動功能。反饋電阻器(低通濾波器電阻)(Rlp) 決定著電路的驅(qū)動功能。由于輸出會發(fā)生變動，以保持比較器的兩個輸入值相同，因此負(fù)載電阻會有以下限制，計算方程式如下：

　　本文介紹了模擬功能有限的芯片如何獲得模擬電壓參考值的方法。我們可在已將模擬功能用于其他目的的系統(tǒng)中采用上述方法，此外還能將不同的電路結(jié)合起來使用，從而獲得不同的電壓參考，進(jìn)而提高靈活性和可編程性。