低抖動Q開關(guān)光電轉(zhuǎn)換及觸發(fā)系統(tǒng)設(shè)計
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2．3 電路設(shè)計
AVAG02316Tz的輸出信號不能直接作為IXDD415的輸入，采用安森美公司的MC10H116芯片將模擬電平變換成較強(qiáng)抗干擾能力的標(biāo)準(zhǔn)PECL電平，又通過安森美的MC100ELT23將該P(yáng)ECL電平變換成標(biāo)準(zhǔn)的CMOS電平，這樣可以直接作為IXDD415的輸入信號。
為了減小電源噪聲對抖動帶來的不利影響，對于光纖器件及電平轉(zhuǎn)換芯片電源，不僅采用了電容濾波的方法，而且電源和地線分別串聯(lián)1．2 μH電感濾波，對于光纖器件，進(jìn)一步設(shè)計了1個RC濾波電路對該器件的電源進(jìn)行處理。對于IXDD415，為了獲得低輸出阻抗，一個常用方法是旁路電容的容值高出負(fù)載電容兩個數(shù)量級，根據(jù)負(fù)載，旁路電容選擇為4．7μF，0．47 μF，0．1 μF容值的貼片低感脈沖電容。電路設(shè)計如圖4所示。本文引用地址：http://www.biyoush.com/article/179128.htm
3 試驗
對于具有低阻輸出的快信號脈沖，測試時采用了10倍衰減器和50 Ω匹配頭，測試波形如圖5所示。
基準(zhǔn)信號指來自延時同步機(jī)的同步輸出信號，在對單元進(jìn)行了5 min預(yù)熱后，連續(xù)進(jìn)行了30次試驗，每次試驗間隔20s，試驗數(shù)據(jù)如表3所示。
延時主要由光纖長度和Q開關(guān)光電轉(zhuǎn)換及驅(qū)動單元固有延時兩部分組成，根據(jù)該試驗結(jié)果，相鄰兩次試驗間最大延時差為0．5 ns，30次試驗延時極差為0．6ns，抖動為0．07ns，達(dá)到設(shè)計要求。
4 結(jié)論
Z裝置同步觸發(fā)系統(tǒng)的抖動主要來源于Q開關(guān)光電轉(zhuǎn)換與觸發(fā)系統(tǒng)。減小Q開關(guān)光電轉(zhuǎn)換與觸發(fā)系統(tǒng)的抖動是Z裝置24個激光觸發(fā)氣體閉合開關(guān)同步動作的重要技術(shù)基礎(chǔ)。因此，本文對Q開關(guān)光電轉(zhuǎn)換及觸發(fā)單元的抖動進(jìn)行了理論分析，給出一般設(shè)計原則，并據(jù)此設(shè)計電路，試驗結(jié)果表明信號前沿及抖動滿足設(shè)計要求，該單元已應(yīng)用到Z裝置單路樣機(jī)中。在下一步工作中，將進(jìn)行24路全系統(tǒng)聯(lián)試及復(fù)雜電磁環(huán)境下抗干擾能力測試。
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